金屬鍍層測(cè)厚儀DMT-E是濟(jì)南三泉中石實(shí)驗(yàn)儀器有限公司參照標(biāo)準(zhǔn)《 GB/T 15717-1995真空金屬鍍層厚度測(cè)試方法--電阻法》制造的一款實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)儀器，專業(yè)用于鍍鋁膜厚度指標(biāo)的測(cè)定。

金屬鍍層測(cè)厚儀

鍍鋁膜是采用特殊工藝在塑料薄膜表面鍍上一層極薄的金屬鋁而形成的一種復(fù)合軟包裝材料，其中Z常用的加工方法當(dāng)數(shù)真空蒸鍍鋁法，就是在高真空狀態(tài)下通過(guò)高溫將金屬鋁熔化蒸發(fā)，使鋁的蒸汽沉淀堆積到塑料薄膜表面上，從而使塑料薄膜表面具有金屬光澤。由于它既具有塑料薄膜的特性，又具有金屬的特性，是一種價(jià)廉美觀、性能優(yōu)良、實(shí)用性強(qiáng)的包裝材料，因此，鍍鋁膜已經(jīng)被廣泛地應(yīng)用于食品、醫(yī)藥、化工等產(chǎn)品的包裝，比如快餐食品、茶葉、咖啡和化妝品的包裝。鍍鋁膜的厚度成為上述產(chǎn)品包裝的生產(chǎn)廠家關(guān)注的重點(diǎn)指標(biāo)，厚度值過(guò)低則無(wú)法使包裝達(dá)到預(yù)期的保護(hù)效果，厚度值過(guò)高則會(huì)造成成本的增加，借助金屬鍍層測(cè)厚儀DMT-E可完成該項(xiàng)指標(biāo)的檢測(cè)。

金屬鍍層測(cè)厚儀測(cè)試產(chǎn)品

標(biāo)準(zhǔn)《 GB/T 15717-1995真空金屬鍍層厚度測(cè)試方法--電阻法》中對(duì)于金屬鍍層厚度指標(biāo)的測(cè)定步驟有明確的規(guī)定：
1.取試樣長(zhǎng)度不小于300mm,寬度100±0.1mm,數(shù)量不少于5片（表面應(yīng)光滑平整、無(wú)折痕、污物、濺射點(diǎn)、劃傷等缺陷）。
2.將金屬鍍層測(cè)量?jī)x與試樣放置在GB2918規(guī)定的23±2℃，45%~55%RH環(huán)境中，4小時(shí)后測(cè)量。
3.每次測(cè)量前用無(wú)水乙醇擦拭儀器的測(cè)量頭，將試樣平放在金屬鍍層測(cè)量?jī)x與金屬鍍層接觸良好。
4.測(cè)量測(cè)量前金屬鍍層測(cè)量?jī)x必須較零。
5.按測(cè)試鍵，測(cè)量出電阻值，均勻度，和厚度值。

試樣金屬鍍層為一段金屬導(dǎo)體，依據(jù)歐姆定律測(cè)量規(guī)定長(zhǎng)度和寬度試樣的金屬鍍層電阻值，以方塊電阻表示金屬鍍層的厚度或直接計(jì)算其厚度。一般鋁層厚度對(duì)應(yīng)的表面電阻一般在1~2。取樣或?qū)?cm長(zhǎng)，10cm的電阻值在1~20之間。鍍膜剛下卷時(shí)，鋁層表面氧化少，測(cè)量更加準(zhǔn)確。

金屬鍍層測(cè)厚儀DMT-E同時(shí)也可以測(cè)試鍍鋁膜鍍層的均勻度：沿被測(cè)樣品橫向等距離地取8~10個(gè)規(guī)格為100mm×100mm的試樣，用電阻測(cè)量?jī)x分別測(cè)出方塊的電阻值，取其算數(shù)平均值，即為該試樣的鍍層電阻，還可以計(jì)算其電阻值上、下偏差，電阻層電阻的偏差，實(shí)際就是反映了鍍鋁層的均勻度。