s-SNOM技術使用金屬鍍層的原子力（AFM）探針針尖代替?zhèn)鹘y(tǒng)光纖探針來增強樣品的納米尺度區(qū)域的散射，散射信號可以在遠場被檢測到。而這些散射信號攜帶了樣品在金屬探針針尖下納米級區(qū)域的復雜光學性質(zhì)。具體而言，這些散射光的信息包括光的振幅和相位，通過適當?shù)哪Ｐ停@些測量可以估算出針尖下樣品納米尺度區(qū)域材料的光學常數(shù)（n，k）。在某些情況下，光學相位與波長還提供了一個與同種材料常規(guī)吸收光譜近似的光譜信息。    

    瑞宇科技的散射式近場光學顯微鏡建立在基于具有*地位的納米光學表征工具原子力顯微鏡AFM的基礎之上。s-SNOM設計具有非常優(yōu)秀的性能，高度集成，全面自動化，使用靈活，為研究生產(chǎn)力和易用性設定了新的標準。

    瑞宇科技的散射式近場光學顯微鏡特別適用于硬質(zhì)材料，特別是具有高反射率、高介電常數(shù)或強光學共振的材料。它與瑞宇科技的納米紅外光譜成像顯微鏡（NanoIR）配合使用，可以完成對所有物質(zhì)納米尺度的化學性質(zhì)分析及探索。

    瑞宇科技的的分辨率僅由AFM針尖的曲率半徑?jīng)Q定，與入射光源的波長無關，能夠在可見、紅外和太赫茲光譜范圍內(nèi)，提供zui高10nm空間分辨率的光譜和近場光學圖像。

產(chǎn)品特點：

?    10nm空間分辨率近場成像和光譜；
?    
?    特殊的快速成像和采譜技術，10倍于傳統(tǒng)的空間光譜成像；
?    
?    特殊的背景壓制技術和高效光學信號收集技術，確保在10nm空間分辨率下仍然保持*的信噪比；
?    
?    預先校準光路，操作極其簡便；
?    
?    模塊化設計，可拓展性強；

應用：

        由于瑞宇科技的和光譜譜圖的可靠性和可重復性，s-SNOM業(yè)已成為納米光學領域熱點研究方向的優(yōu)選科研設備，廣泛適用于各種無機物和有機物，如表面等離子體、納米天線、2D材料（石墨烯，BN），納米結構，半導體，絕緣體，生命科學，高分子材料等，在等離基元、納米FTIR和太赫茲等眾多研究方向得到許多重要科研成果。 

      
      石墨烯等離子體的s-SNOM相位和振幅圖像（上—相位圖像三維視圖；左—相位和SPP駐波線橫截面；右—s-SNOM振幅圖）

     
      光學近場顯微鏡的光譜和成像。（上—波長相關的復雜光學性質(zhì)；下左—共振（1659cm-1）的s-SNOM相位圖像；下右—非共振（1605cm-1）的s-SNOM相位圖像）

      
      s-SNOM圖像顯示了棒狀天線上的偶極子散射。（上—覆蓋在形貌圖上的s-SNOM圖像；下左—AFM圖像；下右—s-SNOM圖像）

       
      紫外膜的s-SNOM測量揭示了蛋白質(zhì)在脂質(zhì)膜內(nèi)的分布。（上—AFM高度圖；下左—當紅外激光源調(diào)諧到酰胺I吸收帶產(chǎn)生共振時（1667cm-1）s-SNOM相位圖像；下右—非共振時（1618cm-1）s-SNOM相位圖像）