博曼XRF熒光鍍層測厚儀BA100-G-S可搭載高分辨率的固態(tài)探測器，良好的元素分辨率，無需二次濾波器，峰位長時間保持穩(wěn)定，無需頻繁地進行標準片校準；
博曼XRF熒光鍍層測厚儀BA100-G-S采用幾何緊湊式結(jié)構(gòu)，激發(fā)源到樣品的距離只有其他同類機型的三分之一，有效的提高儀器測量產(chǎn)品精度的效率；
博曼XRF熒光鍍層測厚儀BA100-G-S可提供三種不同的樣品平臺供用戶選擇：
1：標準固定平臺；
2：馬達驅(qū)動/可編程XY平臺；
3：加寬的可編程XY平臺
博曼XRF熒光鍍層測厚儀BA100-G-S儀器應(yīng)用于航空航天、汽車、緊固件、PCB、FPC線路板、電子元器件、端子連接器、磁體、半導(dǎo)體、生物、能源、石化、貴金屬等行業(yè)。
常見的鍍層應(yīng)用:
PCB行業(yè)
Au/Pd/Ni/Cu/PCB
引線框架
Ag/Cu
Au/Pd/Ni/CuFe
半導(dǎo)體行業(yè)
Pd/Ni/Cu/Ti/Si-晶元基材
Au/Pd/Ni/Cu/Si晶元基材
線材
Sn/Cu
珠寶、貴金屬
10,14,18Kt
元素分析、合金分類、雜質(zhì)分析、溶液分析、電鍍液分析等
