索恩達(dá)三維數(shù)字光柵控制器SGO-500
為精準(zhǔn)而設(shè)計(jì) “高速三維數(shù)字光柵控制器”憑借PDG自動(dòng)光柵控制技術(shù)、PMP輪廓測(cè)試技術(shù)為錫膏印刷、微電子元器件提供高精度的三維和二維測(cè)量。內(nèi)部結(jié)構(gòu)模塊化設(shè)計(jì),實(shí)現(xiàn)了高集成,簡(jiǎn)單化,有利于各種應(yīng)用及設(shè)備維護(hù)。
| ![]()
|
功能特點(diǎn) |
PDG可編程全光譜結(jié)構(gòu)光柵 可編程光柵(PDG)技術(shù)形成全光譜結(jié)構(gòu)光柵,實(shí)現(xiàn)了對(duì)結(jié)構(gòu)光柵的軟件調(diào)制及控制,提高了設(shè)備的檢測(cè)能力和適用范圍。
| |
PMP調(diào)制輪廓測(cè)量技術(shù) 運(yùn)用*的相位輪廓調(diào)制測(cè)量技術(shù)(PMP),8比特的灰階分辨率,達(dá)到0.37微米的檢測(cè)分辨率。對(duì)焊膏印刷進(jìn)行高精度的三維和二維測(cè)量。
|
3維及2維測(cè)量 自動(dòng)檢測(cè)所有需要檢測(cè)的物體的體積,面積、高度、XY位置形狀不良等工藝缺陷。
|
克服反射率的差異 同步漫反射技術(shù)(DL)完*焊膏的結(jié)構(gòu)陰影和亮點(diǎn)干擾。
|
|
*的穩(wěn)定性 控制器由可編程控制器、數(shù)字光柵、影像系統(tǒng)組成。
|
應(yīng)用于SPI焊膏檢測(cè) SPI 解決焊膏缺陷,包括體積、面積、高度、XY偏移、形狀,漏印、少錫、多錫、高度偏高、高度偏低、連錫、偏位、形狀不良。
|
![]()
|
應(yīng)用于焊膏印刷 印刷機(jī)與SGO-500三維數(shù)字光柵控制器(PDG)組合,快速提升3大優(yōu)勢(shì): 降低成本 產(chǎn)品合并后價(jià)格直接下調(diào)25%。 提高產(chǎn)品檢測(cè)自控能力 形成真正的閉環(huán)控制,通過印刷后檢測(cè)結(jié)果,自動(dòng)對(duì)印刷機(jī)優(yōu)化和調(diào)整。 自行組合,誤判、識(shí)別錯(cuò)誤 快速模塊化組合,根據(jù)客戶來做檢測(cè)裝置選配及持續(xù)升級(jí)。
|
![]()
|
應(yīng)用于AOI自動(dòng)光學(xué)檢測(cè) 3D AOI 創(chuàng)新技術(shù)解決了現(xiàn)有 2D AOI 無法解決的瓶頸。 利用3維測(cè)量核心技術(shù),不受密腳距、透明度、顏色、陰影等周圍環(huán)境及元器件特性的影響,在原有的2D-AOI基礎(chǔ)上快速提升檢測(cè)能力。
|
![]()
|
索恩達(dá)三維數(shù)字光柵控制器SGO-500*的技術(shù)參數(shù)
測(cè)量原理 | Measurement Principle | 3D 白光 PMP PDG(可編程數(shù)字光柵) |
測(cè)量項(xiàng)目 | Measurements | 體積、面積、高度、XY偏移、形狀,輪廓 |
檢測(cè)不良 類型
| Detection of non-
performing types
| 漏印、少錫、多錫、高度偏高、高度偏低、連錫、偏位、形狀不良 |
相機(jī) | Camera | 500萬像素 |
FOV尺寸 | FOV size | 48×34mm |
精度 | Accuracy | 高精度:±1μm |
分辨率 | Resolution | XY方向:10μmZ軸:0.37um |
PDG控制器 | 45度可變光柵 | 單投影 |
重復(fù)精度 | Repeatability | 體積:小于1%(4 Sigma)高度:小于1μm(4 Sigma),面積:小于1%(5 Sigma) |
Gage R&R | Gage R&R | <<10%(6 Sigma) |
檢測(cè)速度 | Detection Speed | 高精度模式:小于0.5秒/FOV |
Mark點(diǎn)檢測(cè)時(shí)間 | Mark-point detection time | 0.5秒/個(gè) |
測(cè)量高度 | Maximum Measuring height | 700μm(2000) μm |
彎曲PCB測(cè)量高度 | Maximum Measuring
height of PCB warp
| ±5mm |
小焊盤間距 | Minimum pad spacing | 100μm |
小測(cè)量大小 | Smallest sizemeasurement | 長(zhǎng)方形:150μm(5.9 mils), 圓形:200μm(7.87 mils) |
工程統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù) | Engineering Statistics | Histogram, Xbar-R Chart, Xbar-S Chart,Cp & Cpk, %
Gage Repeatability Data,SPI Daily/Weekly/Monthly Reports
|
讀取檢測(cè)位置 | Read position Detection | 支持Gerber Format(274x, 274d)格式,人工Teach模式 |
操作系統(tǒng)支持 | Operating system support | Windows®XP Professional &windows®7 professional |
電源 | Power | 200-240VAC,50/60HZ單相 |
光柵數(shù)字控制器選索恩達(dá),專業(yè)生產(chǎn)廠商