元素范圍 | Mo靶:鋁到鈾(Nb-Ru除外) W靶:鉀到鈾 |
濃度 | ppb 到 |
檢測限值 | Ni< 1 pg |
樣品類型 | 液體、懸浮液、粉末、顆粒物、金屬、薄層、組織、晶片、 濾片等 |
樣品量 | 液體和懸浮液,從1微升到50微升 顆粒物,直徑100微米以下;粉末,10微克以下 |
樣品更換器 | 自動樣品更換器,10個托盤 自動托盤檢測,用于鑒別樣品類型 |
容量 | 樣品托盤1: 30毫米盤片,*多90個盤片 樣品托盤2:顯微鏡載玻片,*多30個載玻片 樣品托盤3: 2英寸晶片,*多50個晶片 樣品托盤4:矩形,小于54毫米,*多50個樣品 樣品托盤5:用戶定義 |
X射線管 | *高50W,金屬陶瓷,*高50 Kv, 1mA,空氣冷卻 |
X射線光學件 | 多層膜單色儀 |
激發(fā)模式 | Mo-K, 17.5 Kev W■可致輻射,35 Kev; W-L, 8.4 Kev Cu-K, 8.0 Kev Cr-K, 5.4 Kev |
檢測器 | 珀爾帖冷卻XFIash®硅漂移檢測器 不需要液氮 探測器有效面積:60 mm2,選配:100 mn? 能量分辨率<149ev (在1 OOKcps (錠Ka),) |
接口 | 通過TCP/IP進行數據交換(RJ45電纜) |
電源 | 100/240 V, 50/60 HZ |
尺寸 | 528mmx693mmx512mm (高x寬x深) |
重量 | 80 Kg |
附件 | 清洗盒,用于樣品載體、存放盒 TXRF起動器套件(移液管、尖頭、試管、研缽、藥匙) |