X 射線熒光光譜 (XRF) 能夠?qū)Χ喾N材料進(jìn)行元素分析，包括固體、液體和疏松粉末。 Zetium 光譜儀專為滿足要求嚴(yán)苛的流程控制和研發(fā)應(yīng)用需求而設(shè)計(jì)，其高品質(zhì)的設(shè)計(jì)和創(chuàng)新功能居于市場地位，可對從鈹?shù)斤训榷喾N元素進(jìn)行精度范圍從百萬分之一以下到百分之一的分析。

憑借我們多年的豐富經(jīng)驗(yàn)以及利用具有廣泛分析功能的 X 射線產(chǎn)品組合取得的成功，Zetium 推動(dòng)材料分析的發(fā)展邁出了革命性的一步。 該平臺包含了 SumXcore 技術(shù)，它是 WDXRF、EDXRF 和 XRD 的集成。 這種*的功能組合使 Zetium 在多種環(huán)境下?lián)碛械姆治瞿芰?、速度和任?wù)靈活性。  

Zetium 配備了我們版本的 SuperQ 軟件（包括 Virtual Analyst），可幫助非專家用戶輕松地設(shè)置應(yīng)用程序。 針對特定分析提供了廣泛的附加軟件模塊，例如無標(biāo)分析、地質(zhì)痕量元素、潤滑油中的基體校正以及薄膜分析。 

針對特定行業(yè)提供了 Zetium XRF 光譜儀行業(yè)版：水泥、礦物、金屬、石化產(chǎn)品以及聚合物和塑料。 版配置可在任何行業(yè)內(nèi)滿足嚴(yán)苛的要求。 Zetium 平臺的模塊化設(shè)計(jì)允許通過各種軟件包來實(shí)現(xiàn)以任務(wù)為導(dǎo)向的性能增強(qiáng)。 馬爾文帕納科提供了一系列集成解決方案；從連接樣品制備裝置的簡單接口，到將多個(gè)分析儀器集成到單一容器實(shí)驗(yàn)室中的全自動(dòng)項(xiàng)目。

增強(qiáng)的分析性能

· 從 1 到 2.4、3 或 4 kW 的功率升級可增強(qiáng)靈敏度

· 一系列 X 射線光管陽極材料（銠、鉻、鉬和金）可確保發(fā)揮特定應(yīng)用性能

· 用于增強(qiáng)靈敏度和加大過渡金屬分析動(dòng)態(tài)范圍的復(fù)合探測器

· 用于擴(kuò)大的重元素動(dòng)態(tài)范圍（線性高達(dá) 3.5 Mcps）的 HiPer 閃爍探測器特別適合對鋼中的鈮和鉬進(jìn)行高精度分析

· 可使用 THETA 核依次執(zhí)行游離氧化鈣和 XRF 分析

出色的用戶體驗(yàn) 

· Virtual Analyst 提供簡潔、直觀的軟件

· 整套應(yīng)用程序設(shè)置模塊和軟件解決方案

· 使用 Omnian 執(zhí)行行業(yè)的無標(biāo) XRF 分析，對未知材料進(jìn)行分析，或者在沒有標(biāo)準(zhǔn)的情況下進(jìn)行分析

· 多元素微小區(qū)域分析

· 可編程的面罩，適合的樣品尺寸為 6 mm 至 37 mm

大化樣品處理量

· SumXcore 技術(shù) - 利用 ED core（能譜核）將測量時(shí)間縮短多達(dá) 50%

· 從 1 到 2.4、3 或 4 kW 的功率升級可加快分析速度

· Hi-Per 通道可實(shí)現(xiàn)對輕元素的同步測量

· 連續(xù)和直接進(jìn)樣可大大縮短儀器的進(jìn)樣時(shí)間

· 高容量進(jìn)樣器臺（多 209 位）可滿足高處理量應(yīng)用需求

· 進(jìn)樣器條形碼閱讀器選項(xiàng)可實(shí)現(xiàn)快速、*的樣品裝載和數(shù)據(jù)錄入

可靠性 

· 除塵設(shè)備可盡量減少污染，并能夠大化儀器的正常運(yùn)行時(shí)間

· 用于提高 X 射線管耐用性和耐腐蝕性的 CHI-BLUE X 射線管窗涂層

· 樣品類型識別（固體和液體）

· 條形碼閱讀器可實(shí)現(xiàn)無差錯(cuò)的樣品數(shù)據(jù)錄入

 儀器的擁有成本低

· 節(jié)省空間的緊湊型設(shè)計(jì) 

· 小體積空氣鎖設(shè)計(jì) - 用于將樣品快速循環(huán)到真空中，或?qū)σ后w分析實(shí)現(xiàn)低氦氣消耗

· 便于檢修的服務(wù)模塊意味著更高的儀器可維修性和短的停機(jī)時(shí)間

· 制冷機(jī)可從實(shí)驗(yàn)室?guī)ё邿崃?- 避免實(shí)驗(yàn)室空調(diào)基礎(chǔ)設(shè)施負(fù)荷過重

 

· 可節(jié)省成本的成套解決方案