僅需要幾分鐘時(shí)間，Duetto就能提供：
A. XRD分析礦物及物相鑒定
B. XRF元素分析
兩種技術(shù)均采用反射幾何技術(shù)，無(wú)需接觸物件
當(dāng)X射線(xiàn)接觸物件時(shí)，同時(shí)產(chǎn)生XRD和XRF信號(hào)
X射線(xiàn)衍射（XRD）
入射X射線(xiàn)照射在樣品上，會(huì)在特定的角度產(chǎn)生與入射光能量相同的衍射信號(hào)，從而實(shí)現(xiàn)結(jié)晶相和礦物鑒別；
X射線(xiàn)熒光（XRF）
入射X射線(xiàn)接觸到樣品時(shí)，會(huì)使樣品內(nèi)的原子受激發(fā)產(chǎn)生X射線(xiàn)熒光，向四周發(fā)散，從而判斷元素組成。
XRD有效角度=20°～55°2θ
→在機(jī)械部件與衍射角度范圍之間妥協(xié)
→小角衍射需要精密控制設(shè)備與分析表面的距離
XRF能量范圍=3到25KeV
Duetto由于其*的構(gòu)造及可彎曲分析頭，可適用于分析各種各樣的樣品。
將分析頭放置于三腳架上，使用激光測(cè)量工具將分析頭對(duì)齊到被測(cè)試物件，即可收集XRF及XRD數(shù)據(jù)。
Duetto
鎘橙-CdS（Se摻雜）-顏料
鎘橙-商業(yè)產(chǎn)品
10 exposures – 5 分鐘
100 exposures – 50 分鐘
1000 exposures – 8.3 小時(shí)
美國(guó)蓋蒂博物館
? XRD 分辨率: 0.25°2θ FWHM
? XRD 范圍: 20-55°2θ: 機(jī)械部件的妥協(xié)
? XRF 能量分辨率: 200 eV at 5.9 keV
? XRF 能量范圍: 3 to 25 keV
? XRD 幾何構(gòu)造: 反射法
?樣品要求: 平面或凸起（不限尺寸）
? X-ray 陽(yáng)極材料: Co or Cu (Cu 標(biāo)配)
? X-ray 射線(xiàn)管電壓: 30kV
? X-ray射線(xiàn)管功率: 10W
?探測(cè)器類(lèi)型: 1024 x 256 像素 - 2D 帕爾貼-自冷卻 CCD探測(cè)器
?數(shù)據(jù)存儲(chǔ)容量: 40 Gb
?無(wú)線(xiàn)連接: 802.11 b/g r
?電池驅(qū)動(dòng) (4 hours 支持熱交換)
?工作溫度: -10°C to 35°C
?尺寸: 48.5 x 39.2 x 19.2 cm 基體; 8.5 X 16 X 4 cm 頭部
?重量: 12 kg 基體; 7kg 頭部
