高溫半導(dǎo)電材料電阻率測試儀
測試PC軟件一套，USB通訊接口，軟件界面同步顯示、分析、保存和打印數(shù)據(jù)！
電極材料 鎢電極或鉬電極
溫度(選購)
高溫半導(dǎo)電材料電阻率測試儀
適用行業(yè)：:電腦和打印機1套；2.標(biāo)準(zhǔn)電阻1-5個
PC軟件界面 顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率
配套方案：解決各材料狀態(tài) --固態(tài)、液態(tài)、氣態(tài)、顆粒狀 電阻、電阻率、電導(dǎo)率測量
氣氛保護（氣體客戶自備） 常用氣體如下：氦(He)、氖(Ne)、氬(Ar)、氪(Kr)、氙(Xe)、氡(Rn)，均為無色、無臭、氣態(tài)的單原子分子
PC軟件供電：400-1200℃ 電源220V，功率4KW；380V;1400℃-1600℃電源380V；功率9KW：
升溫速度：常溫開始400℃--800℃需要15分鐘；800℃-1200℃需要30分鐘；1400℃-1600℃需要250分鐘—300分鐘
常溫 --400℃；600℃；800℃；1000℃；1200℃；1400℃；1600℃
規(guī)格型號FT-351A FT-351B FT-351C
方塊電阻范圍10-5～2×105Ω 10-6～2×105Ω 10-4～1×107Ω
電阻精度≤0.3% ≤0.3% ≤10%
四探針儀工作電源AC 220V±10%.50Hz<30W
誤差≤3%（標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果≤15%
用于：企業(yè)、高等院校、科研部門對導(dǎo)電陶瓷、硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導(dǎo)電玻璃（ITO）和其它導(dǎo)電薄膜等新材料方塊電阻、電阻率和電導(dǎo)率數(shù)據(jù).電流精度±0.1%讀數(shù) ±0.1讀數(shù) ±2%
高溫電源：直線型探針，探針中心間距：4mm；樣品要求大于13mm直徑
型號及參數(shù)：測試電流范圍 0.1μA.μA.0μA，100μA，1mA，10mA，100 mA 1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA 10mA---200pA
采用四探針雙電組合測量方法測試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫箱結(jié)合配置高溫四探針測試探針治具與PC軟件對數(shù)據(jù)的處理和測量控制，解決半導(dǎo)體材料的電導(dǎo)率對溫度變化測量要求，軟件實時繪制出溫度與電阻，電阻率，電導(dǎo)率數(shù)據(jù)的變化曲線圖譜，及過程數(shù)據(jù)值的報表分析.
電阻率范圍10-6～2×106Ω-cm 10-7～2×106Ω-cm 10-5～2×108Ω-cm高溫材料采用復(fù)合陶瓷纖維材料，具有真空成型，高溫不掉粉的特征探針間距
BEST-351高溫四探針電阻率測試系統(tǒng)概述：
標(biāo)配外（選購）：雙電測四探針儀是運用直線四探針雙位測量。設(shè)計參照單晶硅物理測試方法并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。
測試方式雙電測量
溫度精度沖溫值：≤1-3℃；控溫精度：±1°C
一、概述：
采用 PC 軟件自動測量，自動讀取樣品壓縮過程中高度以及實時電阻/電阻率/電導(dǎo)率過程數(shù)據(jù). 自動生成報表，描述過程變化曲線圖譜，自動步進加壓，自動脫模，自動恒壓測量，USB 和 232 通訊端口，四端法測量模式，恒流源測量，自動檔位切換，可選擇壓力量程，紫銅度金電極， 旋轉(zhuǎn)式電極結(jié)構(gòu)，操作便利.
二、適用范圍 ：
需要對電性能進行分析的導(dǎo)電性粉末，如：鋰電池材料、石墨烯、石墨類、碳素粉末、焦化、 石化、粉末冶金等生產(chǎn)加工企業(yè)部門；高等院校、科研部門，質(zhì)量檢驗機構(gòu)，質(zhì)量管理部門， 研發(fā)部門等。
參照標(biāo)準(zhǔn)：GB∕T24521-2018 炭素原料和焦炭電阻率測定方法; YS/T587.6-2006 炭陽極 用煅后石油焦檢測方法第 6 部分粉末電阻率的測定
三、參數(shù)資料：
電阻 10-5～2×106Ω 電阻率范圍 10-5～2×106Ω-cm 電導(dǎo)率 5×10-6～105s/cm
測試電流范圍 1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，1000mA
測量電壓量程 電壓量程：2mV 分辨率 20mV 200mV 2V：0.1uV
測量精度±（0.1%）
電流精度 ±0.1% ±0.2%.電阻精度 ≤0.3%標(biāo)準(zhǔn)電阻
分辨率 0. 1μΩ.
PC 軟件界面 電阻值、電阻率、電導(dǎo)率值、溫度、壓強值、單位自動換算、橫截面、高度、曲 線圖譜、報表等.
高度量程和精度 高度測量范圍：0.01-10.01mm，測量分辨率 0.01mm.恒壓時間 0-99.9S.
標(biāo)準(zhǔn)件選購 a.標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)電阻 1-3 個； b.標(biāo)準(zhǔn)高度校準(zhǔn)件 1 個.
測試方式 a.四端測量法 b.自動測量 13.壓力選購 a.200kg； b.300kg； c.500kg;d.1000kg
粉末模具 標(biāo)配：a.壓力 200kg 和 300kg 機型模具內(nèi)徑 10mm； b. 壓力 500kg 和 1000kg 機 型模具內(nèi)徑 20mm； 模具行程高 25mm ；
加壓方式自動，脫模方式自動，電極材質(zhì)紫銅誤差≤4%；重復(fù)性誤差3%以內(nèi).（因不同材料本身特性因素影響，誤差不同，人為因數(shù)除外）
工作電源輸入: AC 220V±10% ,50Hz
功 耗：<60W
主機外形尺寸約：H700mm*L650mm*D300mm
凈重量約：45kg
標(biāo)配外選購 a.電腦和打印機依據(jù)客戶要求配置；b.計量證書 1 份 c.水分儀 d.真密度儀 粉體綜合分析解決方案：粉體流動行為分析儀（靜態(tài)力學(xué)，剪切法）粉體流動測試儀（動態(tài)力學(xué)，轉(zhuǎn)鼓法或旋轉(zhuǎn)圓筒法）粉末屈服強度分析儀（單軸壓縮法）粉體壓縮強度測試儀（可壓性，壓縮方程）顆粒和粉末特性分析儀系列(傳統(tǒng)方法)系列粉末電阻率測試系統(tǒng)（電性能）解決粉體表征：流與不流分析；粒度；水分；體積分析；電導(dǎo)性、靜電電荷分析。本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了炭素原料和焦炭粉末電阻率的測定方法。
本標(biāo)準(zhǔn)適用于煅后無煙煤、石墨、焙燒碎、煅后石油焦、石墨化焦、針狀焦等炭素生產(chǎn)用原料及焦炭粉末電阻率的測定。
GB/T 1997 焦炭試樣的采取和制備
GB/T 8170 數(shù)值修約規(guī)則與極限數(shù)值的表示和判定
方法原理：
將一定粒度的干燥試樣裝入試樣精內(nèi)，在一定的壓力下通入一定強度的電流，測量試樣兩端的電壓降，根據(jù)歐姆定律計算試樣的電阻率。
粉未電阻率測量儀
高度測量裝置;測量范圍 15 mm～17 mm，精度 0.01 mm。
試驗機;能給試樣穩(wěn)定施加 3.9 MPa±0.03 MPa 壓力，線路電壓降低于0.5 mV。 電源∶能提供穩(wěn)定直流 500 mA士0.1 mA。
電壓表∶測量精度士0.1 mV，可測量試樣兩端的電壓降。試樣筒內(nèi)徑 16.0 mm～16.3 mm。
干燥箱溫度可以控制在0 ℃～300 ℃，控溫精度士5 ℃，帶鼓風(fēng)。
試樣采取和制備焦炭按照 GB/T 1997 規(guī)定進行，其他可參照執(zhí)行。
試樣經(jīng)縮分后將其中1 kg 試樣置于鼓風(fēng)干燥箱內(nèi)，在 150 ℃±10 ℃干燥 2 h。再破碎至小于 1mm，縮分出 80 g～100 g，其余試樣用于保存。
將縮分出的試樣經(jīng)過3次至 4次破碎使其全部通過0.5 mm 的方孔標(biāo)準(zhǔn)篩，取粒度 0.315 mm～ 0.500 mm之間的試樣（也可選用根據(jù)產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)或供需雙方約定的粒度區(qū)間，但報告中需注明粒度區(qū)間），制備好的試樣不少于 30g混合均勻，貯存在干燥器中備用。
試驗步驟稱取試樣稱取3.3g試樣，為保證試樣高度在 15 mm～17 mm 之間，必要時可調(diào)整試樣量。
測定將試樣筒底和壓頭短接，然后施加3.9 MPa±0.03 MPa的壓力，連好電線并接通電源。調(diào)整穩(wěn)壓電源電流，使通過線路的電流為 500 mA士0.1 mA，然后測量線路的電壓降V。（該讀數(shù)應(yīng)小于1 mV，否則需調(diào)整儀器），測定兩次取平均值。
在試樣筒中加入試樣，震實并使試樣上表面平整后將試樣筒置于試驗機內(nèi)，然后施加3.9 MPa±0.03 MPa的壓力，測量樣品高度h，連好電線并接通電源，調(diào)整穩(wěn)壓電源電流，使通過試料的電流為500mA士0.1mA，然后測量試樣的電壓降。
測定次數(shù)獨立地進行兩次測定，每次測定均使用未測試過的新試樣，取其平均值。
檢測時間當(dāng)試樣通過電流開始 3min 內(nèi)應(yīng)檢測完畢，超時結(jié)果做廢。
結(jié)果計算
按式（1）計算粉末電阻率∶
式中∶-—粉末電阻率，單位為微歐米（μΩ·m）;
S——試樣筒內(nèi)橫截面積，單位為平方毫米（mm2）;
V ——試樣與線路電壓降，單位為毫伏（mV）;
V。--—線路電壓降，單位為毫伏（mV）;
I —電流，單位為安培（mA）;
h——試樣顆粒柱的高度，單位為毫米（mm）。
檢驗結(jié)果為兩次測定值的算術(shù)平均值，保留整數(shù)。數(shù)值修約按 GB/T 8170 的修約比較法規(guī)定進行。
