雙光束紫外可見分光光度計UV762
功能特點：
1、關(guān)鍵元件采用進口元件，全新*的光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計，使儀器的主機具有優(yōu)良的光學(xué)性能和測光性能，雜散光低，測光精確度和穩(wěn)定可靠性高。 
2、真正的雙光束測光系統(tǒng)，配合*的電路測控系統(tǒng)，使儀器具有較高的可靠性和極低的噪聲。 
3、*的氘燈和鎢燈安裝，光源自動切換及自動尋找位置的設(shè)計和工作方式，使用戶操作儀器和維修替換光源更為方便、正確和安全． 
4、雙光束紫外可見分光光度計UV762采用大屏幕中文窗口(LED)液晶屏顯示，具有良好的人機對話界面． 
5、優(yōu)良的軟件設(shè)計和編制，使儀器有較強光譜數(shù)據(jù)處理功能：自動掃描測量光譜,  多波長( 1-3λ) 測定、動力學(xué)測定、１－３次曲線擬合、１－４階導(dǎo)數(shù)光譜、存取顯示打印光譜圖和分析數(shù)據(jù)。 
6、基于Windows 平臺開發(fā)的強大軟件，界面友好，功能強大，方便您的存儲輸出，方便辦公，節(jié)省費用。

雙光束紫外可見分光光度計UV762
性能指標(biāo)：
1、波長范圍：190nm～1100nm 
2、光譜帶寬：2nm 
3、波長準(zhǔn)確度：≤±0.3nm(開機自動校正) 
4、波長重復(fù)性：≤0.2nm 
5、透射比準(zhǔn)確度：±0.3%(T) 
6、透射比重復(fù)性：0.2%(T) 
7、透射比測量范圍：0～200%T 
8、吸光度測量范圍：-0.301～3.000A 
9、雜光：≤0.15%(在220nm處，以NAI測定) 
10、漂移：≤0.002A/H （500nm處） 
11、噪聲：線噪聲≤0.15%T；0%線噪聲≤0.1%T 
12、掃描速度：快  中  慢