電路板的X射線(xiàn)面分布圖，（Cu, Br, Ti, Ca, Fe, Sn, Ni, Zn）
介紹：
IXRF專(zhuān)注于精確地微區(qū)痕量元素分析產(chǎn)品，包括齊全的能譜儀（EDS）和X射線(xiàn)熒光（XRF）。
在硬件方面，作為一款臺(tái)式XRF，Atlas-M型號(hào)的體積為890×560×560mm，具有較大的樣品倉(cāng)體積，相對(duì)應(yīng)的是較大的樣品臺(tái)行程以及重的載重量，而與此同時(shí)，卻可以將樣品臺(tái)的移動(dòng)速度提升到300mm/s，移動(dòng)精度≤1μm。
其采用的毛細(xì)管聚焦技術(shù)，可將束斑縮至5μm，另外也可通過(guò)選用準(zhǔn)直器等配件，使束斑在5μm—1000μm之間的范圍內(nèi)可調(diào)；其多大8片的濾波片選擇，可滿(mǎn)足更多的分析需求。
在軟件方面，作為曾因其軟件研發(fā)能力而獲得英國(guó)政府頒發(fā)的千禧年大獎(jiǎng)的公司，IXRF在A(yíng)tlas操作軟件的開(kāi)發(fā)上沿襲了其一貫的專(zhuān)業(yè)性及開(kāi)放性。
在數(shù)據(jù)的獲取及處理上，可實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)的一鍵采集，或自動(dòng)或手動(dòng)的鑒別樣品成分，并利用FP建?；騫uantitative match等功能實(shí)現(xiàn)樣品成分的定量分析；在圖像處理方面，不僅可對(duì)獲取的圖像進(jìn)行拼接，還可實(shí)現(xiàn)相分析、特征顆粒篩選、特征顆粒形態(tài)學(xué)上的測(cè)量及成分分析等功能；在面分布及線(xiàn)掃描方面，可同時(shí)獲得多達(dá)35種元素的信息，并且實(shí)現(xiàn)單像素的譜圖數(shù)據(jù)采集，并可*保存下來(lái)，后續(xù)仍可繼續(xù)對(duì)此數(shù)據(jù)進(jìn)行點(diǎn)線(xiàn)面等處理。
在應(yīng)用方面，可在各種環(huán)境，如大氣、真空以及氦氣等氣氛下分析多種類(lèi)的樣品，無(wú)論是固體、液體、顆粒、粉末，樣品大小，拋光與否，表面粗糙與否皆可輕松勝任，且實(shí)現(xiàn)無(wú)損分析。
鑒于A(yíng)tlas的突出的性能特點(diǎn)，其被廣泛的應(yīng)用到地礦文博、電子器件、環(huán)境監(jiān)測(cè)、刑偵醫(yī)學(xué)、醫(yī)藥檢測(cè)等方面。
Atlas-M型號(hào)技術(shù)參數(shù)
樣品類(lèi)型 | 固、液、顆粒、粉末 |
測(cè)試介質(zhì) | 空氣、真空、氦氣 |
激發(fā)源 | 12-50W, 0-50kV, 200 μA-1mA |
激發(fā)源參數(shù)： 靶材 束班尺寸 濾片 | 多毛細(xì)管或準(zhǔn)直器 銠（其他可選） 5μm-1000μm連續(xù)可調(diào) 大8片 |
探測(cè)器 分辨率 活區(qū)面積 | SDD 135-145ev 50-150mm2 |
樣品臺(tái) | X、Y、Z三軸可動(dòng) 大320X320mm可移動(dòng)范圍 大載重10Kg |
Mapping大尺寸 樣品移動(dòng)速度 | 220X200mm 300mm/s |
元素分析范圍 | Na-U |
特點(diǎn)：
1、 束斑尺寸小可達(dá)5μm；
2、 大樣品臺(tái)行程（320×320×120mm），移動(dòng)速度可達(dá)300mm/s；
3、 多達(dá)8片的濾波片選擇；
應(yīng)用領(lǐng)域：
1、 地礦文博；
2、 電子器件；
3、 刑偵醫(yī)學(xué)；
4、 醫(yī)藥檢測(cè)；
5、 環(huán)境監(jiān)測(cè)。
