普申測(cè)厚儀
用于測(cè)量金屬底材上的干膜厚度。
技術(shù)參數(shù)
產(chǎn)品 普申磁性測(cè)厚儀 普申磁性非磁性測(cè)厚儀 訂購(gòu)編號(hào) PS 2633/1 PS 2634/1 測(cè)量原理 電磁式(磁性基底) 電磁式(磁性基底)+ 渦流式(非磁性基底) 自動(dòng)識(shí)別磁性基底和非磁性基底 測(cè)量范圍 0-1250μm 0-1250μm 測(cè)量精度誤差 單點(diǎn)校準(zhǔn):±(1+3%H) 三點(diǎn)、四點(diǎn)校準(zhǔn):±[(1%+3%H)]H+1.5 單點(diǎn)校準(zhǔn):±(1+3%H) 三點(diǎn)、四點(diǎn)校準(zhǔn):±[(1%+3%H)]H+1.5 最小基體 10mm*10mm 10mm*10mm 最小曲率 凸:5mm 凹:5mm 凸:5mm 凹:5mm 基體 0.4mm 0.4mm