高溫四探針測(cè)試儀

一、HEST-800高溫四探針測(cè)試儀

       HEST-800高溫四探針測(cè)試儀器采用四探針雙電測(cè)量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料在高溫、真空及氣氛條件下測(cè)量的一種重要的工具。

      本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示，無需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能。

      采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，配備10英寸觸摸屏，軟件可保存和打印數(shù)據(jù)，自動(dòng)生成報(bào)表:本儀器可顯示電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導(dǎo)率，配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購。

      雙電測(cè)數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測(cè)量。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測(cè)試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國AS.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換，進(jìn)行兩次電測(cè)量，對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測(cè)分析，自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響，它與單電測(cè)直線或方形四探針相比，大大提高**度.也可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測(cè)以及新材料電學(xué)性能研究等用途。

       HEST-800系列采用自主開發(fā)*的電子護(hù)系統(tǒng)，設(shè)備的安全性:選用進(jìn)口熱電偶保定溫度的采集有效值、采用*的的SPWM電子升壓技術(shù)，電壓輸出穩(wěn)定性好。配備高精度電壓、電流傳感器以保證試驗(yàn)數(shù)據(jù)的有效性。

       HEST-800系統(tǒng)搭配Labview系統(tǒng)開發(fā)的hcpro軟件，具備彈性的白定義功能，可進(jìn)行電壓、電流、溫度、時(shí)間等設(shè)置，符合導(dǎo)體、半導(dǎo)體材料與其它新材料測(cè)試多樣化的需求。

    高精準(zhǔn)度的輸出與測(cè)量規(guī)格，保障檢測(cè)結(jié)果的品質(zhì)，適用于新材料數(shù)據(jù)的檢測(cè)。例如:多晶硅材料，石墨烯材料、導(dǎo)電功能薄膜材料、半導(dǎo)體材料，也可做為科研院所新材料的耐電弧性材料的性能測(cè)試。

    針對(duì)測(cè)試儀做了多項(xiàng)安全設(shè)計(jì)，測(cè)試過程中有過電壓、過電流、超溫等異常情況以保證測(cè)試過程的安全；資料保存機(jī)制：當(dāng)遇到電腦異常瞬時(shí)斷電可將資料保存于控制器中，不丟失試驗(yàn)數(shù)所新開啟動(dòng)后可恢復(fù)原有試驗(yàn)數(shù)據(jù)。

系統(tǒng)功能

電壓、電流、溫度實(shí)時(shí)顯示

自動(dòng)升壓功能

循環(huán)自動(dòng)測(cè)試

升溫速度可控

自動(dòng)試驗(yàn)報(bào)表

過壓、過流、超溫報(bào)警

軟件自動(dòng)升級(jí)

試驗(yàn)電壓、電流可調(diào)

電極方便更換

在線設(shè)備診斷

    工步編輯

    可編輯樣品名稱、牌號(hào)、試驗(yàn)條件、試驗(yàn)單位等；具有試驗(yàn)電壓設(shè)置功能可選擇試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)；可選擇是否自定義或自動(dòng)試驗(yàn);截止條件:時(shí)間/電壓/電流/溫度。

    語音提示:可選擇是否語言提示功能。

    統(tǒng)計(jì)報(bào)告

    可自定報(bào)格式

    可生出 PDF、CSV、XLS 文件格式

    分析功能:可對(duì)測(cè)試的數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)。*大/*小值、平均值等。