MarSurf XCR 20 測量粗糙度和輪廓可在一臺測量站上同時執(zhí)行表面粗糙度和輪廓測量。根據(jù)測量任務(wù)，可使用 GD 25 驅(qū)動裝置進行表面粗糙度測量，或使用 PCV 驅(qū)動裝置進行輪廓測量。兩個測量系統(tǒng)通過組合支架固定到測量立柱。
產(chǎn)品特點：
節(jié)省空間型設(shè)計：兩個驅(qū)動裝置可使用相應(yīng)的組裝支架安裝到 MarSurf ST 500 或 ST 750 測量立柱
一次測量即可完成粗糙度和輪廓評估
使用 MarSurf LD 130 / LD 260 測量系統(tǒng)對組件進行高精密度輪廓和粗糙度評估需要長行程和*的分辨率
只需在軟件平臺內(nèi)進行切換并更換驅(qū)動裝置和測頭等機械組件即可快速更換粗糙度和輪廓測量
技術(shù)參數(shù)：
接觸速度（Z 方向）： 0.1 至 1 mm/s
測桿長度： 175 mm, 350 mm
測量速度（文本）： 0.2 mm/s 至 4 mm/s
針尖半徑： 25
掃描長度末尾（X 方向）： 200 mm 分辨率Z 方向，相對探針針頭：0.38 μm（350 mm 測桿）/ 0.19 μm（175 mm 測桿）
Z 方向，相對測量系統(tǒng)：0.04 μm
掃描長度開始（X 方向）： 0.2 mm
取樣角： 在平滑表面上，取決于偏差：后緣高至 88°，前緣高至 77°
