高分辨率掃描探針顯微鏡
掃描探針聲顯微鏡(SPAM)是開展原位、實時、納米尺度上材料表面和亞表面的力學(xué)性質(zhì)和結(jié)構(gòu)無損檢測和成像的新技術(shù)，對促進納米科學(xué)和技術(shù)的發(fā)展有重要意義。在初步實驗發(fā)現(xiàn)的基礎(chǔ)上，進一步開展高分辨率的掃描探針聲顯微鏡的低頻成像理論、實驗和技術(shù)的研究，理解低頻工作模式下SPAM的信號激發(fā)機理，掌握提高SPAM像分辨率的技術(shù)，開發(fā)與商品掃描探針顯微鏡可兼容的聲信號激發(fā)和檢測系統(tǒng)，形成有自主知識產(chǎn)權(quán)的新的高分辨率掃描探針聲顯微鏡工作模式。
SPM-8000FM
-FM（頻率調(diào)制）
·懸臂定位檢測噪聲減少95%
·大氣·液體環(huán)境中實現(xiàn)真空型SPM性能水平·Z-X斷面觀察
·專用軟件實現(xiàn)三維制圖測定及分析
.FHR-SPM是采用頻率檢測方式（ Frequency Modulation ) ，可在大氣
·溶液環(huán)境下分析薄膜、結(jié)晶、半導(dǎo)體、有機材料等樣品，獲得與真空環(huán)境中同樣高分辨率表面觀察圖像的產(chǎn)品。
在固體和液體的臨界面（固液界面）進行水化、溶劑化的觀察，因此也可作為固液界面結(jié)構(gòu)的測量分析儀器。
