HP2000E 外量子效率光電性能分析儀，主要參數：色溫、光通量、顯色指數、色容差、輻射功率、坐標、紅色比、藍色比、綠色比、電流、電壓、功率、功率因素、光效。
HP2000E 外量子效率光電性能分析儀
EQE（External Quantum Efficiency）的測量中，核心是分子部分“單位時間內出射到空間的光子數”的測量。現(xiàn)在高精度的測量方法主要有兩種：
1）光分布法
2）積分球法
光分布法
之前許多用戶可能會采用通過亮度計測量法線方向的亮度，以及通過標準朗伯體分布理論計算得到器件的EQE值。這是比較常見的、傳統(tǒng)的測量方式，但其實存在很大的缺陷。由于實際中器件的朗伯體分布并非標準的余弦分布，會有部分分布不均的現(xiàn)象，此時通過理論計算的結果會非常不準確。而光分布法就可以解決這個問題，下圖便是很好的說明：
積分球法
第二種EQE的測量方法是通過積分球配件，將器件的整體光通量收集，并通過計算得到器件的EQE。該方法又有兩種測量方案，一種是將器件至于積分球球壁上，僅測量器件的前向通量，稱為2π法；一種是將器件置于積分球內部，測量器件的整體通量，稱為4π法。
積分球法簡單快捷有效，但是器件本身的基底反射對于積分球的工作會有一定的影響
電致發(fā)光器件的另一個重要性能電流-電壓-亮度（IVL）。
電流參數（電流、電流密度等）隨電壓參數的變化曲線反映了器件的電學性質。亮度隨電壓參數的變化曲線反映了器件的光學性質。這類電學和光學參數之間的關系統(tǒng)稱為IVL（電流-電壓-亮度）關系，對于電致發(fā)光器件也非常重要。
通常情況下，IVL關系的測量需要多套電學測量系統(tǒng)和光學測量系統(tǒng)分別測量，測量全部的參數非常繁瑣。通過軟件整合電流源和光譜探測器的功能，C9920-11/12可以測量電流、電流密度、電壓、電流效率、功率效率、發(fā)射光譜、色度等一系列參數，并且逐一對應，形成關系曲線，將測量操作化繁為簡。
