CSK-IA試塊是我國承壓設(shè)備無損檢測標(biāo)準(zhǔn)NB/T47013中規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)試塊，其結(jié)構(gòu)尺寸如圖所示。
CSK-IA試塊是由IIW試塊的基礎(chǔ)上改進而來的 主要用途有:1利用R100mm曲面測定斜探頭的 入射點和前沿長度;2利用50和1.5mm圓孔測定 斜探頭的折射角;3利用試塊直角棱邊測定斜探頭 聲束軸線的偏離情況;4利用25mm厚度測定探傷 儀水平線性、垂直線性和動態(tài)范圍;5利用25mm 厚度調(diào)整縱波探測范圍和掃描速度;6利用R50和 R100mm曲面調(diào)節(jié)橫波探測范圍和掃描速度;7利 用50、44和40mm 三個臺階孔測定斜探頭分 辨力。
CSK-IA 試塊是我國承壓設(shè)備無損檢測標(biāo)準(zhǔn) NB/T47013 中 規(guī)定的標(biāo)準(zhǔn)試塊。
CSK-IA 試塊使用說明及測試方法
水平線性(時基線性)的檢驗
水平線性又稱時基線性，或掃描線性。是指輸入到超聲檢測儀中的不 同回波的時間間隔與超聲檢測儀顯示屏?xí)r基線上回波的間隔成正比關(guān)系的 程度。水平線性影響缺陷位置確定的準(zhǔn)確度。水平線性的測試可利用任何 表面光滑、厚度適當(dāng)，并具有兩個相互平行的大平面的試塊，用縱波直探 頭獲得多次回波，并將規(guī)定次數(shù)的兩個回波調(diào)整到與兩端的規(guī)定刻度線對 齊，之后，觀察其他的反射回波位置與水平刻度線相重合的情況。其測試 步驟如下:
(1)將直探頭置于 CSK-IA 試塊上，對準(zhǔn) 25mm 厚的大平底面， 如圖 a 所示
(2)調(diào)整微調(diào)、水平或脈沖移位等旋鈕，使示波屏上出現(xiàn)五次底波 B1 到 B5，且使 B1 對準(zhǔn) 2.0，B5 對準(zhǔn) 10.0，如圖 b 所示
(3)觀察和記錄 B2、B3、B4 與水平刻度值 4.0、6.0、8.0 的偏差 值 a2、a3、a4。
(4)計算水平誤差:公式
式中，amax——a2，a3，a4 中者 b——示波屏水平滿刻度值
縱波探測范圍和掃描速度的調(diào)整
在利用縱波探傷時，可以利用試塊的已知厚度來調(diào)整探測范圍和掃描 速度，此過程我往往和檢驗時基線性同步進行。當(dāng)探測范圍在 250mm 以 內(nèi)時，可將探頭置于 25mm 厚的大平底上，使四次底部回波位于刻度四， 十次底部回撥位于刻度十，則刻度十就代表實際探測聲程為 250mm。當(dāng)探測聲程范圍大于 250mm 時，可將探頭置于如圖的 B 或 C 處，使各次底 波位于相應(yīng)的刻度處，此時起始零點亦同時得到修正。
調(diào)整橫波掃描速度和探測范圍
由于縱波的聲程 91mm 相當(dāng)于橫波聲程 50mm，因此可以利用試塊 上 91mm 來調(diào)整橫波的檢測范圍和掃描速度。例如橫波 1:1，先用直探頭 對準(zhǔn) 91 底面，是 B1、B2 分別對準(zhǔn) 50、100，然后換上橫波探頭并對準(zhǔn) R100 圓弧面，找到回波，并調(diào)至 100 即可。
測定儀器與直探頭遠場分辨力
(1)抑制旋鈕調(diào)至“0”，探頭置于如圖所示位置，左右移動探頭， 使顯示屏上出現(xiàn) 85、91、100 三個反射回波 A、B、C 如圖所示，則波峰 和波谷的分貝差 20Lg(a/b) 表示分辨力。
(2)NB/T47013-2015 中規(guī)定，直探頭遠場分辨力大于等于 20dB。
測定儀器與斜探頭的分辨力
(1)探頭置于如圖所示位置，對準(zhǔn) 50mm、44mm、40mm 階梯孔， 使示波屏上出現(xiàn)三個反射波。
(2)平行移動探頭并調(diào)節(jié)儀器，使 50mm、44mm 回波等高，如圖所示， 其波峰和波谷分別為 h1、h2，其分辨力為
X = 20Lgh1/h2(dB)
NB/T47013-2015 中規(guī)定，斜探頭的遠場分辨力大于等于 12 分貝。
測定斜探頭入射點
將探頭置于圖示位置，向 R100mm 的圓弧發(fā)射超聲波，前后移動探頭， 直到 R100mm 圓弧面反射波達到點，此時與 CSK-1A 試塊側(cè)面標(biāo) 線中心點“0”相對應(yīng)的探頭契塊那一點即為探頭入射點。
測定斜探頭K值
根據(jù)探頭折射角的大小，將探頭置于試塊的不同位置進行測量，如圖所示。波形圖同于入射點波形圖。
測量時，探頭應(yīng)放正使波束中心線與試塊側(cè)面平行，前后移動探頭， 找到 50mm 孔或 1.5mm 孔的反射波。此時，聲束中心線必然與入射 點和圓心之間的連線相重合，即聲束中心線垂直于孔表面。這時，試塊上 與入射點相應(yīng)的角度線所標(biāo)的值即為該斜探頭的 K 值。
垂直線性的檢驗
將探傷儀的抑制和補償旋鈕置于“0”或“關(guān)”用直探頭放置在圖中 A 或 B 位置。并保證探頭與試塊之間有良好的聲耦合。
調(diào)整衰減器使試塊底波高度為熒光屏的滿刻度，此時必須有 30 分貝的 衰減量。然后每衰減 2 分貝用百分率讀出反射波高度，直到 26 分貝，在 判斷 30 分貝時反射波是否存在，將結(jié)果記錄表中。評定垂直線性時，以反 射波高度的理想波高為基準(zhǔn)，以測試值與基準(zhǔn)值的正偏差(+d)及最 大負偏差(-d)之和來判定垂直線性。
D=[|+d|+|-d|]×%
盲區(qū)的估計
盲區(qū)是指最小的探測距離，測試方法是:將直探頭置于探頭位置圖中 D、 E 位置，測量 50mm 圓孔反射波。從而可以估計出盲區(qū)小于等于 5mm 或 大于等于 10mm，或者介于兩者之間。
穿透能力估計
將直探頭置于探頭位置圖中 F 位置，將儀器個靈敏度旋鈕均置于， 測試試塊中有機玻璃塊反射波次數(shù)和次反射波高度。以此來估計最 大穿透力，借以比較探傷儀器及探頭組合性能隨時間變化的情況。
探測靈敏度的調(diào)整
根據(jù) AVG 原理，在探頭探傷時可把 R100mm 圓弧面視為大平底反射， 以此來調(diào)整探測靈敏度。直探頭探傷時可把厚度為 25/100mm 的幾個側(cè)面 視為大平底處理，以此來調(diào)整靈敏度。另外，也可以根據(jù)探傷要求，儀測 量 1.5mm 橫通孔反射波來確定靈敏度。
測定斜探頭聲束軸線偏離
在 CSK-IA 試塊上厚 25mm 的平面上，使聲束指向棱邊，對于 K 值小于等于 1 的探頭，聲束經(jīng)底面反射指向上棱角;K 值大于 1 的聲束指 向下棱角，前后左右擺動探頭，使所測棱邊端角回波幅度，固定探頭 不動，然后用量角器或適當(dāng)?shù)姆椒y量斜探頭幾何中心聲束軸線與棱邊法 線的夾角(例如測量探頭斜面與試塊端面垂直線的夾角)，即為聲束軸線 偏斜角。應(yīng)當(dāng)注意:斜探頭的聲束擴散角較大時，可能影響到回波的 探測，以致可能產(chǎn)生較大的測量誤差。
