半導體技術(shù),自60年代起步,1965年集成回路(1C)誕生后一路飛躍,閃存、表面實裝封裝等技術(shù)頻現(xiàn),高密度LSI蓬勃發(fā)展。半導體技術(shù)至關重要,也迎來新需求，新的生產(chǎn)測試挑戰(zhàn)；導通電阻評價系統(tǒng)助力半導體試驗設備研發(fā)芯片，為監(jiān)控老化系統(tǒng)精準監(jiān)測，讓計測系統(tǒng)實現(xiàn)高精度測量。家電、手機到電動汽車,再到通信、醫(yī)療等領域。
AMR測試方法是聯(lián)動冷熱沖擊或者快溫變試驗箱進行評價,在冷熱沖擊的高應力環(huán)境下，對基板接合部分或者材料的導通性能評價。
變化率(%)判定
此判定針對BGA以及CSP等封裝元器件的微小阻值變化的判定方法。以指定的測試數(shù)據(jù)為基準，比較高溫側(cè)/低溫側(cè)的數(shù)據(jù)變化百分比進行判定失效與否。
勤達(深圳)數(shù)碼科技有限公司簡稱（勤達科技）是一家積極推動技術(shù)應用的科技公司，自2004年成立以來，致力于引進國外科技軟件、設備和技術(shù)。
勤達不斷地自我提升，為客戶提供可靠性工程技術(shù)培訓、技術(shù)交流會議、技術(shù)A顧問服務等多元化、多層次、的高增值服務，與客戶互動、合作，共同推動著我國可靠性行業(yè)的發(fā)展。
