綜合概述

ATX3800是一款真空型能量散射X射線熒光光譜儀，采用X射線熒光光譜技術(shù)。隨著X射線熒光光譜分析技術(shù)的不斷推廣，使用X射線熒光光譜儀分析檢測(cè)已成為很多行業(yè)質(zhì)量控制的主要手段。

ATX3800真空型能量散射X射線熒光光譜儀，具有制樣簡(jiǎn)單、分析速度快、分析含量范圍寬、重現(xiàn)性好、準(zhǔn)確度高等優(yōu)點(diǎn)。本產(chǎn)品外觀大方美觀，堅(jiān)固耐用，具有多重安全防護(hù)模式。8種準(zhǔn)直器與5種濾光片多達(dá)40種組合，滿足更多的測(cè)試需求。同時(shí)我們采用自主研發(fā)的SES信號(hào)處理系統(tǒng)、準(zhǔn)直器和濾光片自動(dòng)切換技術(shù)、一體化真空系統(tǒng)、一體化散熱系統(tǒng)、輻射安全系統(tǒng)等技術(shù)，保證了產(chǎn)品的安全、穩(wěn)定、精確。

ATX3800軟件專門針對(duì)金屬材料元素成份檢測(cè)而開發(fā)（含真空控制功能），對(duì)采集的光譜信號(hào)進(jìn)行數(shù)據(jù)處理、計(jì)算并報(bào)告顯示測(cè)量結(jié)果。儀器自動(dòng)校準(zhǔn)。自帶樣品材質(zhì)定性分析，放在手動(dòng)用戶選擇錯(cuò)誤曲線?？赏瑫r(shí)顯示多個(gè)譜圖，打印多種報(bào)告形式。

產(chǎn)品特點(diǎn)

l 配置了真空測(cè)試系統(tǒng)。增加了元素測(cè)試范圍，屏蔽空氣對(duì)輕元素測(cè)試的影響，極大提高輕元素檢出限。一體化真空腔體設(shè)計(jì)保證真空度，提高設(shè)備可維性

l 探測(cè)器配備SDD測(cè)試系統(tǒng)，對(duì)于礦時(shí)間各元素進(jìn)行檢測(cè)，減少元素間干擾

l 使用型SDD硅漂移探測(cè)器，電制冷而非液氮制冷，體積小、數(shù)據(jù)分析準(zhǔn)確且維護(hù)成本低

l 采用自主研發(fā)的SES信號(hào)處理系統(tǒng)（數(shù)字多道），有效提高峰背比，讓測(cè)量更精準(zhǔn)

l 八種光路校正準(zhǔn)直系統(tǒng)，配合5種濾光片，根據(jù)不同樣品自動(dòng)切換，多達(dá)40種組合

l 優(yōu)化一體化散熱設(shè)計(jì)，使整機(jī)散熱性能得到更大提高，確保X射線源的運(yùn)行安全

l 多重防輻射泄露設(shè)計(jì)，輻射防護(hù)級(jí)別屬于同類產(chǎn)品

l 的機(jī)芯溫度監(jiān)控技術(shù)，確保射線源的安全可靠運(yùn)行，有效延長(zhǎng)其使用壽命，降低使用成本

應(yīng)用領(lǐng)域

l RoHS/無鹵檢測(cè)指令

l 合金分析領(lǐng)域（特別是輕元素）

l 鍍層成分分析

l 包裝指令檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)（94/62/EC)

l 玩具指令檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

l 礦石成分品目分析

1. 性能優(yōu)勢(shì)

ATX3800真空型能量色散X射線熒光光譜儀具有如下特點(diǎn)：

² 下照式：可滿足各種形狀和狀態(tài)的樣品測(cè)試需求，固體、液體、粉末都可進(jìn)行檢測(cè)；

² 高分辨率電子制冷探測(cè)器：良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，數(shù)字多道技術(shù)，測(cè)試速度更快，測(cè)試精度更高；

² 新一代高壓電源和X光管：高效超薄窗X光管，指標(biāo)達(dá)到水平，低能X射線激發(fā)待測(cè)樣品，對(duì)鋁硅、磷等輕元素激發(fā)效果更好；

智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴(kuò)展儀器測(cè)試范圍。

如下為樣品重復(fù)性測(cè)試結(jié)果。

3. ATX3800配件清單