常州同惠TH512半導(dǎo)體C-V特性分析儀概述：
TH510系列半導(dǎo)體C-V特性分析儀是同惠電子針對(duì)半導(dǎo)體材料及器件生產(chǎn)與研發(fā)的分析儀器。
TH510系列半導(dǎo)體C-V特性分析儀**性地采用了雙CPU架構(gòu)、Linux底層系統(tǒng)、10.1英寸電容式觸摸屏、中英文操作界面、內(nèi)置使用說(shuō)明及幫助等新一代技術(shù)，適用于生產(chǎn)線快速分選、自動(dòng)化集成測(cè)試及滿(mǎn)足實(shí)驗(yàn)室研發(fā)及分析。
TH510系列半導(dǎo)體C-V特性分析儀測(cè)試頻率為10kHz-2MHz， VGS電壓可達(dá)±40V，足以滿(mǎn)足二極管、三極管、MOS管及IGBT等半導(dǎo)體件CV特性測(cè)試分析。得益于10.1英寸、分辨率達(dá)1280*800的電容式觸摸屏，TH510系列半導(dǎo)體器件C-V特性分析儀可將四個(gè)參數(shù)同屏顯示、所有設(shè)置、監(jiān)視、分選參數(shù)、狀態(tài)等可以在同一屏顯示，避免了頻繁的切換的操作。
常州同惠TH512半導(dǎo)體C-V特性分析儀功能特點(diǎn)：
A.單點(diǎn)測(cè)試，10.1英寸大屏，四種寄生參數(shù)同屏顯示，讓細(xì)節(jié)一覽無(wú)遺
10.1英寸觸摸屏、1280*800分辨率，Linux系統(tǒng)、中英文操作界面，支持鍵盤(pán)、鼠標(biāo)、LAN接口，帶來(lái)了無(wú)以倫比的操作便捷性。
MOSFET*重要的四個(gè)寄生參數(shù)：Ciss、Coss、Crss、Rg在同一個(gè)界面直接顯示測(cè)量結(jié)果，并將四個(gè)參數(shù)測(cè)試等效電路圖同時(shí)顯示，一目了然。
多至6個(gè)通道測(cè)量參數(shù)可快速調(diào)用，分選結(jié)果在同一界面直接顯示。
B.列表測(cè)試，靈活組合
TH510系列半導(dǎo)體C-V特性分析儀支持*多6個(gè)通道、4個(gè)測(cè)量參數(shù)的測(cè)試及分析，列表掃描模式支持不同通道、不同參數(shù)、不同測(cè)量條件任意組合，并可設(shè)置極限范圍，并顯示測(cè)量結(jié)果 。
C.曲線掃描功能（選件）
TH510系列半導(dǎo)體C-V特性分析儀支持C-V特性曲線分析，可以對(duì)數(shù)、線性?xún)煞N方式實(shí)現(xiàn)曲線掃描，可同時(shí)顯示多條曲線：同一參數(shù)、不同Vg的多條曲線；同一Vg、不同參數(shù)多條曲線 。
D.簡(jiǎn)單快捷設(shè)置
E.10檔分選及可編程HANDLER接口
儀器提供了10檔分選，為客戶(hù)產(chǎn)品質(zhì)量分級(jí)提供了可能，分選結(jié)果直接輸出至HANDLER接口。
在與自動(dòng)化設(shè)備連接時(shí)，怎么配置HANDLER接口輸出，一直是自動(dòng)化客戶(hù)的難題，TH510系列將HANDLER接口腳位、輸入輸出方式、對(duì)應(yīng)信號(hào)、應(yīng)答方式等可視化，讓自動(dòng)化連接更簡(jiǎn)單。
F.支持定制化，智能固件升級(jí)方式
同惠儀器對(duì)于客戶(hù)而言是開(kāi)放的，儀器所有接口、指令集均為開(kāi)放設(shè)計(jì)，客戶(hù)可自行編程集成或進(jìn)行功能定制，定制功能若無(wú)硬件更改，可直接通過(guò)固件升級(jí)方式更新。
儀器本身功能完善、BUG解決、功能升級(jí)等，都可以通過(guò)升級(jí)固件(Firmware)來(lái)進(jìn)行更新，而無(wú)需返廠進(jìn)行。
固件升級(jí)非常智能，可以通過(guò)系統(tǒng)設(shè)置界面或者文件管理界面進(jìn)行，智能搜索儀器內(nèi)存、外接優(yōu)盤(pán)甚至是局域網(wǎng)內(nèi)升級(jí)包，并自動(dòng)進(jìn)行升級(jí)
G.半導(dǎo)體元件寄生電容知識(shí)
在高頻電路中，半導(dǎo)體器件的寄生電容往往會(huì)影響半導(dǎo)體的動(dòng)態(tài)特性，所以在設(shè)計(jì)半導(dǎo)體元件時(shí)需要考慮下列因數(shù)
在高頻電路設(shè)計(jì)中往往需要考慮二極管結(jié)電容帶來(lái)的影響；MOS管的寄生電容會(huì)影響管子的動(dòng)作時(shí)間、驅(qū)動(dòng)能力和開(kāi)關(guān)損耗等多方面特性；寄生電容的電壓依賴(lài)性在電路設(shè)計(jì)中也是至關(guān)重要，以MOSFET為例。
H.標(biāo)配附件
| 產(chǎn)品型號(hào) | TH511 | TH512 | TH513 | |
| 通道數(shù) | 2（可選配4/6通道） | 2 | ||
| 顯示 | 顯示器 | 10.1英寸(對(duì)角線)電容觸摸屏 | ||
| 比例 | 16:9 | |||
| 分辨率 | 1280×RGB×800 | |||
| 測(cè)量參數(shù) | CISS、COSS、CRSS、Rg，四參數(shù)任意選擇 | |||
| 測(cè)試頻率 | 范圍 | 10kHz-2MHz | ||
| 精度 | 0.01% | |||
| 分辨率 | 10mHz 1.00000kHz-9.99999kHz | |||
| 100mHz 10.0000kHz-99.9999kHz | ||||
| 1Hz 100.000kHz-999.999kHz | ||||
| 10Hz 1.00000MHz-2.00000MHz | ||||
| 測(cè)試電平 | 電壓范圍 | 5mVrms-2Vrms | ||
| 準(zhǔn)確度 | ±（10%×設(shè)定值+2mV） | |||
| 分辨率 | 1mVrms 5mVrms-1Vrms | |||
| 10mVrms 1Vrms-2Vrms | ||||
| VGS電壓 | 范圍 | 0 - ±40V | ||
| 準(zhǔn)確度 | 1%×設(shè)定電壓+8mV | |||
| 分辨率 | 1mV 0V - ±10V | |||
| 10mV ±10V -±40V | ||||
| VDS電壓 | 范圍 | 0 - 200V | 0 - 1500V | 0 - 3000V |
| 準(zhǔn)確度 | 1%×設(shè)定電壓+100mV | |||
| 輸出阻抗 | 100Ω，±2%@1kHz | |||
| 數(shù)學(xué) 運(yùn)算 | 與標(biāo)稱(chēng)值的**偏差Δ，與標(biāo)稱(chēng)值的百分比偏差Δ% | |||
| 校準(zhǔn)功能 | 開(kāi)路OPEN、短路SHORT、負(fù)載LOAD | |||
| 測(cè)量平均 | 1-255次 | |||
| AD轉(zhuǎn)換時(shí)間（ms/次） | 快速+：0.56ms(＞5kHz) 快速：3.3ms 中速：90ms 慢速：220ms | |||
| *高準(zhǔn)確度 | 0.1%（具體參考說(shuō)明書(shū)） | |||
| CISS、COSS、CRSS | 0.00001pF - 9.99999F | |||
| Rg | 0.001mΩ - 99.9999MΩ | |||
| Δ% | ±（0.000% - 999.9%） | |||
| 多功能參數(shù)列表掃描 | 點(diǎn)數(shù) | 20點(diǎn)，每個(gè)點(diǎn)可設(shè)置平均數(shù)，每個(gè)點(diǎn)可單獨(dú)分選 | ||
| 參數(shù) | 測(cè)試頻率、Vg、Vd、通道 | |||
| 觸發(fā)模式 | 順序SEQ：當(dāng)一次觸發(fā)后，在所有掃描點(diǎn)測(cè)量，/EOM/INDEX只輸出一次 | |||
| 步進(jìn)STEP：每次觸發(fā)執(zhí)行一個(gè)掃描點(diǎn)測(cè)量，每點(diǎn)均輸出/EOM/INDEX，但列表掃描比較器結(jié)果只在*后的/EOM才輸出 | ||||
| 圖形掃描 | 掃描點(diǎn)數(shù) | 任意點(diǎn)可選，*多1001點(diǎn) | |
| 結(jié)果顯示 | 同一參數(shù)、不同Vg的多條曲線；同一Vg、不同參數(shù)多條曲線 | ||
| 顯示范圍 | 實(shí)時(shí)自動(dòng)、鎖定 | ||
| 坐標(biāo)標(biāo)尺 | 對(duì)數(shù)、線性 | ||
| 掃描參數(shù) | Vg、Vd | ||
| 觸發(fā)方式 | 單次 | 手動(dòng)觸發(fā)一次，從起點(diǎn)到終點(diǎn)一次掃描完成，下個(gè)觸發(fā)信號(hào)啟動(dòng)新一次掃描 | |
| 連續(xù) | 從起點(diǎn)到終點(diǎn)無(wú)限次循環(huán)掃描 | ||
| 結(jié)果保存 | 圖形、文件 | ||
| 比較器 | Bin分檔 | 10Bin、PASS、FAIL | |
| Bin偏差設(shè)置 | 偏差值、百分偏差值、關(guān) | ||
| Bin模式 | 容差 | ||
| Bin計(jì)數(shù) | 0-99999 | ||
| 檔判別 | 每檔*多可設(shè)置四個(gè)參數(shù)極限范圍，四個(gè)測(cè)試參數(shù)結(jié)果設(shè)檔范圍內(nèi)顯示對(duì)應(yīng)檔號(hào)，超出設(shè)定*大檔號(hào)范圍則顯示FAIL，未設(shè)置上下限的測(cè)試參數(shù)自動(dòng)忽略檔判別 | ||
| PASS/FAIL指示 | 滿(mǎn)足Bin1-10,前面板PASS燈亮，否則FAIL燈量 | ||
| 存儲(chǔ)調(diào)用 | 內(nèi)部 | 約100M非易失存儲(chǔ)器測(cè)試設(shè)定文件 | |
| 外置USB | 測(cè)試設(shè)定文件、截屏圖形、記錄文件 | ||
| 鍵盤(pán)鎖定 | 可鎖定前面板按鍵，其他功能待擴(kuò)充 | ||
| 接口 | USB HOST | 2個(gè)USB HOST接口，可同時(shí)接鼠標(biāo)、鍵盤(pán)，U盤(pán)同時(shí)只能使用一個(gè) | |
| USB DEVICE | 通用串行總線插座，小型B類(lèi)（4個(gè)接觸位置）；與USB TMC-USB488和USB2.0相符合，陰接頭用于連接外部控制器。 | ||
| LAN | 10/100M以太網(wǎng)，8引腳，兩種速度選擇 | ||
| HANDLER | 用于Bin分檔信號(hào)輸出 | ||
| RS232C | 標(biāo)準(zhǔn)9針，交叉 | ||
| RS485 | 可以接收改制或外接RS232轉(zhuǎn)RS485模塊 | ||
| 開(kāi)機(jī)預(yù)熱時(shí)間 | 60分鐘 | ||
| 輸入電壓 | 100-120VAC/198-242VAC可選擇，47-63Hz | ||
| 功耗 | 不小于130VA | ||
| 尺寸（WxHxD）mm | 430x177x405 | ||
| 重量 | 16kg | ||
常州同惠TH512半導(dǎo)體C-V特性分析儀應(yīng)用：
■ 半導(dǎo)體元件/功率元件
二極管、三極管、MOSFET、IGBT、晶閘管、集成電路、光
電子芯片等寄生電容測(cè)試、C-V特性分析
■ 半導(dǎo)體材料
晶圓、C-V特性分析
■ 液晶材料
彈性常數(shù)分析
