質(zhì)保時(shí)間長(zhǎng) TSXCANCADD3  變頻器

功能測(cè)試不能代替參數(shù)測(cè)試 

2. 功能測(cè)試僅能測(cè)試到器件的截止區(qū)，放大區(qū)和飽和區(qū)，但無(wú)法了解此時(shí)的工作頻率的高低和速度的快慢。 

3. 對(duì)數(shù)字芯片而言，僅知道有高低電平的輸出變化，但無(wú)法查出它的上升和下降沿的變化速度。 

4. 對(duì)于模擬芯片，它處理的是模擬的變化量。其受電路的元器件的分布，解決信號(hào)方案的不同的影響，是錯(cuò)綜復(fù)雜的。就目前的在線測(cè)試技術(shù)，要解決模擬芯片在線測(cè)試是不可能的。所以，這項(xiàng)功能測(cè)試的結(jié)果，僅能供參考。 

5. 大多數(shù)的在線測(cè)試議，在對(duì)于電路板上的各類芯片進(jìn)行功能測(cè)試后，均會(huì)給出“測(cè)試通過(guò)”或“測(cè)試不通過(guò)”。那么它為什么不給出被測(cè)器件是否有問(wèn)題呢？這就是這類測(cè)試儀的缺撼。因?yàn)樵诰€測(cè)試時(shí)，所受影響（干擾）的因素太多。要求在測(cè)試前采取不少的措施（如斷開晶振，去掉CPU和帶程序的芯片，加隔離中斷信號(hào)等等），這樣做是否均有效，值得研究。至少，目前的測(cè)試結(jié)果有時(shí)不盡人意。 

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數(shù)字經(jīng)濟(jì)時(shí)代的到來(lái)為工業(yè)界的智能化改造、數(shù)字化轉(zhuǎn)型帶來(lái)蓬勃?jiǎng)恿ΓI(yè)的高質(zhì)量發(fā)展，必須從科技創(chuàng)新中尋找答案，站在創(chuàng)新“高地”上進(jìn)行面向未來(lái)的前瞻布局，其落腳點(diǎn)正是技術(shù)的融合創(chuàng)新。由施耐德電氣、亞馬遜云科技、中科創(chuàng)達(dá)以及智慧工廠研究院的專家組成的“綠色智能制造技術(shù)融合創(chuàng)新專家委員會(huì)”為入營(yíng)企業(yè)提供從市場(chǎng)需求調(diào)研，到技術(shù)融合指導(dǎo)、成果落地轉(zhuǎn)化與復(fù)制、市場(chǎng)拓展等方面的“全生命周期”的系統(tǒng)規(guī)劃與支持，不僅賦能各個(gè)項(xiàng)目的聯(lián)合創(chuàng)新，更在實(shí)地調(diào)研后，以更高的視角幫助企業(yè)推動(dòng)技術(shù)融合創(chuàng)新，賦能入營(yíng)企業(yè)的長(zhǎng)期發(fā)展