1．探測器 SDD硅漂移探測器（電制冷，只需要通電即可） 典型分辨率：123ev,133ev(50000CPS) 輸入計數率：1000KCPS，遠大于Si-Pin與Si-Li(是其10倍左右) 峰背比：>25000 窗口厚度（可選）：1μm Dura 碳窗和12.5μm Dura鈹窗（一般的探測器在25μm,對輕元素有更好的透過率，的Dura技術）  碳窗、鈹窗（可以耐酸、堿的腐蝕） 處理器：數字電路，放大倍數，時間常數可任意設置 高壽命，借助于其的Dura碳技術，探測器在幾年的時間內探測器的真空不會變壞，晶體不會損傷，無需擔心后期的維護費用 2.X射線管 高壓：6Kv-50Kv連續(xù)可調 電流：0-1000μA連續(xù)可調 （0-2500μA可選，大電流對Na-K有更好的激發(fā)效果） 功率：50W 穩(wěn)定性：8小時0.2% 正確操作的情況下壽命可以達到50000小時 3、高壓發(fā)生器 輸入電壓：DC24V 輸入電流：4A 輸出電壓：40Kv，1mA(2.5mA可選，適配2500mA光管) 功率：50W 穩(wěn)定性：8小時0.05% 4、精密結構設計 垂直倒角設計，精密的控制保證優(yōu)異的重復性，上照式設計可以避免灰塵的污染，使得儀器可以做到真正的免維護 5、冷卻散熱系統(tǒng) 良好的多級溫控自反饋電路，室溫在5-25℃，儀器結果不會有影響。 6、自動進樣系統(tǒng) 單樣品自動進樣 7、 光譜分析系統(tǒng)控制和數據處理系統(tǒng) 12位模/數轉換器 19吋顯示器 500G以上硬盤驅動 多功能標準鍵盤 打印機 8、分析軟件 元素測量范圍：Na-U 可以測量鍍層厚度 標準曲線法，理論系數法，基本參數法，多元比例法 使您輕松應對各種樣品的分析 開放式軟件設計，您可以自己開發(fā)新的工作曲線 內置式參數設計，您在自己制作工作曲線時，各種干擾自動扣除 9、尺寸規(guī)格 長544mm*寬572mm(含推手）*高1152mm 重量約110kg