 |
測量不透明的材料時采用的反射測量幾何為標準d/8結構,兼容SCI和SCE模式,在兼顧原材料和成品表面的光譜反射率及顏色測量。測量透明及半透明材料時采用的透射測量幾何為標準的d/0結構,特別適合對透明玻璃、薄膜等樣品的透射光譜、色度等指標的把控。 技術優(yōu)勢 ● 實現(xiàn)業(yè)界的測量重復性,ΔE*ab小于0.005; ● 雙光束反饋系統(tǒng),實時監(jiān)控和補償光源波動; ● 優(yōu)良深色域測量表現(xiàn),在測量黑色玻璃面板等低反射率或透射率材料時,仍具有較高的精度和重復性; ● 兼容反射和透射測量,提供SCI 和 SCE 兩種測試模式可選; ● 超大透射測量腔體:有效兼容各類尺寸的測量; ● UV 校正功能:對光源的 UV 成分進行有效調控,使熒光增白材料的測量更加精確; ● 多功能分析管理軟件:包含顏色、反射率、透射率測量以及統(tǒng)計分析功能。 測試界面 采用*的光譜測量技術 光源精確模擬CIE D65標準照明體 HACA高精度分光測色儀是采用*的光譜測量技術,可實現(xiàn)電視機配套玻璃蓋板、外殼、光學膜等材料的光譜反射率曲線、漫反射率、光譜透射率曲線、顏色、色差等參數(shù),滿足研發(fā)和品質對材料透反射率及顏色的高精度測量要求,符合CIE、ISO、ASTM、DIN、JIS等國際標準和GB/T國家標準的顏色要求。 |