典型應(yīng)用：

• 各種器件的I-V功能測試和特征分析，包括：




• 分立和無源元件




• – 兩抽頭器件——傳感器、磁盤驅(qū)動器頭、金屬 氧化物可變電阻（MOV）、二極管、齊納二極 管、電容、熱敏電阻




• – 三抽頭器件——小信號雙極結(jié)型晶體管（BJT）場效應(yīng)晶體管（FET），等等




• 簡單IC器件——光學(xué)器件、驅(qū)動器、開關(guān)、傳感 器、轉(zhuǎn)換器、穩(wěn)壓器




• 集成器件——小規(guī)模集成（SSI）和大規(guī)模集成（LSI） – 模擬IC




• – 射頻集成電路（RFIC）




• – 專用集成電路（ASIC）




• – 片上系統(tǒng)（SOC）器件




• 光電器件，例如發(fā)光二極管（LED）、激光二極管高亮度LED（HBLED）、垂直腔面發(fā)射激光器 （VCSEL）、顯示器




• 圓片級可靠性




• – NBTI、TDDB、HCI、電遷移




• 太陽能電池




• 電池




• 更多…

一、 通用設(shè)置 ：

• 1.NPLC




• 2.接線方式（2、4線制）




• 3.自動調(diào)零




• 4.濾波




• 二、單階恒流輸出測量（BiasIMeasureV-Single）




• 三、單階恒壓輸出測量（BiasVMeasureI-Single）




• 四、多階恒流輸出測量（BiasIMeasureV-Steps）




• 五、多階恒壓輸出測量（BiasVMeasureI-Steps）




• 六、分段電流掃描（SweepIMeasureV-Section）




• 七、分段電壓掃描（SweepVMeasureI-Section）




• 八、連續(xù)電流掃描測量（SweepIMeasureV-Continuity）




• 九、連續(xù)電壓掃描測量（SweepVMeasureI-Continuity）




• 十、雙通道電流同步掃描（Dual-SweepIMeasureV）




• 十一、雙通道電壓同步掃描（Dual-SweepVMeasureI）




• 十二、波形輸出-正弦波（Wave-Sine）




• 十三、波形輸出-方波（Wave-Square）




• 十四、電化學(xué)-循環(huán)伏安（Cyclic voltammetry）測量




• 十五、電化學(xué)-多電流躍階測量（Multi-Current Steps）




• 十六、電化學(xué)-多電位躍階測量（Multi-Potenital Steps）




• 十七、太陽能電池IV特性測量（Solar Cell IV）




• 十八、雙通道恒流恒壓測量（Dual Channel IV）-




• 十九、直流FET-轉(zhuǎn)移曲線測量（DC-FET-Transfer）




• 二十、直流FET-輸出曲線測量（DC-FET-Output）




• 二十一、脈沖FET-轉(zhuǎn)移曲線測量（Pulse-FET-Transfer）




• 二十二、脈沖FET-輸出曲線測量（Pulse-FET-Output）




• 二十三、直流FET柵極方波曲線測量（DC- FET- Gate- Square Wave）




• 二十四、流FET漏極方波曲線測量（DC- FET- Drain- Square Wave）