HAST高加速壽命PCB老化試驗箱
HAST高加速壽命試驗箱主要用于評估在濕度環(huán)境下產品或者材料的可靠性，是通過在高度受控的壓力容器內設定和創(chuàng)建溫度、濕度、壓力的各種條件來完成的，這些條件加速了水分穿透外部保護性塑料包裝并將這些應力條件施加到材料本體或者產品內部。
HAST高加速壽命PCB老化試驗箱
HAST設備特點
標準設計更安全：內膽采用圓弧設計防止結露滴水，符合國家安全容器規(guī)范；
多重保護功能：各種超壓超溫、干燒漏電及誤操作等多重人機保護；
穩(wěn)定性更高：內置自研PID控制算法，確保溫度、濕度以及壓力值準確度。
濕度自由選擇：飽和與非飽和自由設定；
智能化高：支持電腦連接，利用usb數(shù)據(jù)、曲線導出保存。
HAST高加速壽命PCB老化試驗箱
用于評估非氣密性封裝IC器件（固態(tài)設備）在高溫高濕條件下的運行可靠性，對芯片、半導體等其他元器件進行溫濕度（偏壓）高加速應力壽命老化試驗。
應用領域： PCB、LCD Board、電池、電容、電阻、IC 半導體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件、車規(guī)級芯片
