IM3536 LCR測(cè)試儀
DC, 4Hz~8 MHz,可以涵蓋2MHz、5MHz等主流測(cè)量頻率
●高速: 1ms(zui快時(shí)間) &高精度:土0.05%rdg.
●可靠信高,標(biāo)配接觸檢查功能
●比以往機(jī)型(3532. -50)提高了18的精度偏差和5倍的測(cè)量速度
IM3533LCR測(cè)試儀
用途覆蓋線圈、變壓器產(chǎn)品的研發(fā)&生產(chǎn)
●基本精度±0.05%和廣范圍的測(cè)試條件(可設(shè)置DC和1mHz - 200kHz, 5mV- 5V, 10uA - 50mA)
●使用低阻抗高精度模式,可測(cè)量低電感或鋁電解電容的ESR。(與3532-50相比,測(cè)量精度提高了一位)
●掃頻測(cè)量功能(僅IM3533-01)
IM3523 LCR測(cè)試儀
適川于電子零部件生產(chǎn)線和自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)
●基本精度±0.05%和廣范圍的測(cè)試條件(可設(shè)置DC和40Hz ~ 200kHz, 5mV ~ 5V, 10uA ~ 50mA)
●連續(xù)進(jìn)行C-D和ESR等條件的不同測(cè)量時(shí),整體測(cè)試速度提高一位(和3532-50相比)
●具備比較器、BIN測(cè)試(分類功能)
●2ms的高速測(cè)量