| 型號(hào) | 模擬通道 | 輸出頻率 | 記錄長(zhǎng)度 | 采樣率 | 垂直分辨率 |
|---|---|---|---|---|---|
| AFG31021 | 1 | 25 MHz | 16 MSa/通道 | 250 MS/s | 14 位 |
| AFG31051 | 1 | 50 MHz | 16 MSa/通道 | 500 MS/s | 14 位 |
| AFG31022 | 2 | 25 MHz | 16 MSa/通道 | 250 MS/s | 14 位 |
| AFG31052 | 2 | 50 MHz | 16 MSa/通道 | 500 MS/s | 14 位 |
| AFG31101 | 1 | 100 MHz | 16 MSa/通道 | 1 GS/s | 14 位 |
| AFG31151 | 1 | 150 MHz | 16 MSa/通道 | 2 GS/s | 14 位 |
| AFG31102 | 2 | 100 MHz | 16 MSa/通道 | 1 GS/s | 14 位 |
| AFG31152 | 2 | 150 MHz | 16 MSa/通道 | 2 GS/s | 14 位 |
| AFG31251 | 1 | 250 MHz | 16 MSa/通道 | 2 GS/s | 14 位 |
| AFG31252 | 2 | 250 MHz | 16 MSa/通道 | 2 GS/s | 14 位 |
AFG31000 任意波函數(shù)發(fā)生器模擬電路檢定
這是一個(gè)模擬世界。 所有物理量均使用模擬信號(hào)捕獲和表示。 因此，需要檢定放大器、濾波器和轉(zhuǎn)換器等模擬電路的性能。
InstaView™ 技術(shù)避免在阻抗不匹配的 DUT 上增加的波形不確定性
頻率范圍為 25 MHz 至 250 MHz
由于信號(hào)保真度高，無需使用外部濾波器或衰減器
由于具有頻率捷變特性且正弦波平坦度經(jīng)過校準(zhǔn)，頻率響應(yīng)測(cè)試可以輕松完成
AFG31000 任意波函數(shù)發(fā)生器真實(shí)場(chǎng)景信號(hào)復(fù)制
傳感器廣泛用于幾乎所有現(xiàn)代化電子設(shè)計(jì)領(lǐng)域，從汽車到再到電子消費(fèi)品。 迄今為止，使用 AFG 捕獲波形并進(jìn)行復(fù)制以便排除故障或驗(yàn)證一直是挑戰(zhàn)的過程。
ArbBuilder 可直接導(dǎo)入多個(gè)泰克示波器產(chǎn)品系列保存的 csv 格式的波形
高達(dá) 128 M 點(diǎn)的任意內(nèi)存極大地增加了信號(hào)的長(zhǎng)度
低噪音本底使信號(hào)更為清晰
AFG31000 任意波函數(shù)發(fā)生器函數(shù)驗(yàn)證和性能檢定
在產(chǎn)品上市前，測(cè)試工程師必須進(jìn)行大量測(cè)試用例，確保產(chǎn)品滿足技術(shù)規(guī)格。 但是，此過程比較耗時(shí)且重復(fù)。
可編程，實(shí)現(xiàn)自動(dòng)測(cè)試和手動(dòng)測(cè)試的直觀用戶界面
波形序列使用戶在一個(gè)序列中序列化所有測(cè)試程序
靈活的重復(fù)跳轉(zhuǎn)方法保證高效率
高達(dá) 128 M 點(diǎn)的任意內(nèi)存和內(nèi)置非易失性閃存存儲(chǔ)所有波形和測(cè)試程序
AFG31000 任意波函數(shù)發(fā)生器系統(tǒng)與時(shí)鐘或脈沖同步
數(shù)字設(shè)計(jì)中的所有電路部分按照時(shí)鐘速度同時(shí)工作。大系統(tǒng)中的所有設(shè)備必須與觸發(fā)信號(hào)協(xié)調(diào)，以確保它們正常、可靠地工作。使用 AFG31000 是生成時(shí)鐘和觸發(fā)脈沖的有效方法。
脈沖/方波頻率范圍高達(dá) 160 MHz
頻率捷變實(shí)現(xiàn)時(shí)鐘不同速率的無縫切換
易用的向?qū)дf明指導(dǎo)您完成多臺(tái)設(shè)備的同步過程以便增加通道數(shù)
低抖動(dòng)水平，讓您在觸發(fā)系統(tǒng)時(shí)更加自信
AFG31000 任意波函數(shù)發(fā)生器雙脈沖測(cè)試
雙脈沖測(cè)試是一種用于測(cè)量開關(guān)器件參數(shù)和評(píng)估 MOSFET 和 IGBT等功率器件動(dòng)態(tài)性能的方法。雙脈沖測(cè)試可測(cè)量開啟參數(shù)、關(guān)閉參數(shù)和反向恢復(fù)參數(shù)。
執(zhí)行此測(cè)試可：
確保MOSFET 和 IGBT 等功率器件滿足產(chǎn)品規(guī)格書中的規(guī)格
確認(rèn)功率器件或電源模塊的實(shí)際值或偏差
在各種負(fù)載條件下測(cè)量這些開關(guān)器件的參數(shù)，并在多個(gè)設(shè)備上驗(yàn)證性能
AFG31000 任意波函數(shù)發(fā)生器高級(jí)研究和教育
研究人員和教師需要大量信號(hào)才能完成研究和教學(xué)工作。 測(cè)試可以像一系列的脈沖一樣簡(jiǎn)單，模擬 Geiger-Muller 計(jì)數(shù)器的輸出，或者像一個(gè)長(zhǎng)基帶 IQ 一樣復(fù)雜。
InstaView™ 技術(shù)避免因連接復(fù)雜負(fù)載上增加輸出波型的不確定性
整合多種特性與功能
雙工作模式均衡易用性和靈活性以便生成最復(fù)雜波形
內(nèi)置的 ArbBuilder 用于在屏幕上直接生成和編輯任意波形
