手持光譜儀是一種基于XRF(X Ray Fluorescence,X射線熒光)光譜分析技術(shù)的光譜分析儀器，主要由X光管、探測器、CPU以及存儲器組成，由于其便攜具有便攜、準確等特點，使其在合金、礦石、環(huán)境、消費品等領(lǐng)域有著重要的應(yīng)用。尤其適合于不銹鋼材料的牌號確認以及定量測量元素。
對于金屬制造行業(yè)來說 ,質(zhì)量控制和非常重要。材料檢驗是確保金屬制品使用合格材質(zhì)的關(guān)鍵。如 果使用不合格的金屬合金,會引起災(zāi)難性事故,給企業(yè) 帶來巨大的經(jīng)濟損失。手持合金成分分析儀是檢測金屬材料是否合格的關(guān)鍵性手段。有了手持式合金分析儀，質(zhì)量控制以及檢測人員可以 在無損的條件下,每天地檢測上千個金屬合金樣 品。即使是普通工作人員也有把握地將大量的 樣 品 測 出 完 整 而 準確 的 結(jié) 果 。測試時間是1~2秒,無需制備樣品,從金屬細絲到成品焊點,螺釘, 金屬板 ——所有這些樣品都可以被手持分析儀檢測。

手持式分析儀 探測器：13mm2 電致冷Si-PIN探測器 激發(fā)源：40KV/50uA-銀端窗一體化微型X光管 檢測時間：10-200秒（可手持式或座立式測試） 檢測對象：固體、液體、粉末 檢測范圍：硫(S)到鈾(U)之間所有元素 可同時分析元素：多至26個元素 元素檢出限：0.001%～0.01% 校正方式： 銀(Ag) 性：自帶模式，非人員無法使用 Data使用性：可在PDA內(nèi)進行編輯，可導入PC機進行 保存打印，配備海量存儲卡 電 源： 兩塊鋰電池滿電可連續(xù)工作8小時

手持式光譜儀是一種基于XRF光譜分析技術(shù)的光譜分析儀器，當能量高于原子內(nèi)層電子結(jié)合能的高能X射線與原子發(fā)生碰撞時,驅(qū)逐一個內(nèi)層電子從而出現(xiàn)一個空穴,使整個原子體系處于不穩(wěn)定的狀態(tài),當較外層的電子躍遷到空穴時,產(chǎn)生一次光電子，擊出的光子可能再次被吸收而逐出較外層的另一個次級光電子，發(fā)生俄歇效應(yīng),亦稱次級光電效應(yīng)或無效應(yīng)。所逐出的次級光電子稱為俄歇電子。當較外層的電子躍入內(nèi)層空穴所釋放的能量不被原子內(nèi)吸收,而是以光子形式放出,便產(chǎn)生X 射線熒光，其能量等于兩能級之間的能量差。因此，射線熒光的能量或波長是特征性的,與元素有一一對應(yīng)的關(guān)系。由Moseley定律可知，只要測出熒光X射線的波長,可以知道元素的種類,這是熒光X射線定性分析的基礎(chǔ)。此外,熒光X射線的強度與相應(yīng)元素的含量有一定的關(guān)系,據(jù)此,可以進行元素定量分析。X射線探測器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號轉(zhuǎn)換成易于測量的電信號來得到待測元素的特息。

技術(shù)參數(shù)： 重量： 1.6kg 尺寸： 30cm（L） x 10cm（W） x 28cm（H） 激發(fā)源： X射線管，Ag靶，40kV 檢測器： SI-PIN檢測器 操作系統(tǒng)：HP掌上電腦：Windows 5.0 Bruker 軟件 冷卻系統(tǒng)：Peltier 半導體冷卻系統(tǒng) 電源： 交、直流供電;充電鋰電池 工作條件：溫度：-20 ℃ ～ 55 ℃ 　濕度：0～95%
手持式光譜儀使用注意事項 　　
1.使用手持式光譜儀應(yīng)注意防護，手持測試時，測試窗口切勿對人，勿空打。 　　
2.分析儀應(yīng)拿妥，帶好腕帶，切勿摔落及撞擊。 　　
3.不能用指甲掐電源鍵等塑料按鍵，要用指腹操作，以免損壞塑膠鍵。 　　
4.手持式光譜儀操作環(huán)境溫度為-5℃~25℃，端使用溫度為-10℃~49℃，不能將手持式光譜儀放在汽車后備箱等高溫地方，若手持式光譜儀過熱，應(yīng)停止工作、關(guān)機使其冷卻10分鐘左右，再重新開機、校正使用。 　　5.不能檢測磁性材料，否則造成手持式光譜儀損壞，不使用時應(yīng)確實關(guān)機并放入手持式光譜儀箱中存放。