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高性能傅里葉光學(xué)視角檢測儀

ELDIM公司根據(jù)傅里葉光學(xué)原理制造視角分析儀有超過十年的歷史。我們所制造的系統(tǒng)在全視角和大光斑方面的能力逐年遞增，多譜段系列產(chǎn)品使用的光學(xué)設(shè)計原理，視角范圍高達(dá)88度。

高效率

該系統(tǒng)關(guān)鍵特征之一是采用了一種的技術(shù)：可獨立控制系統(tǒng)的孔徑張角和光斑大小。 收集效率高，視角范圍達(dá)88度并同時具有的精確度，同傳統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)傅里葉光學(xué)分析相比，這種無疑是一種關(guān)鍵的優(yōu)勢與進(jìn)步。

高速分析

這種全視圖圓錐圖是通過的方位角分辨率來測量，只需幾秒即可測定亮度，測定輻射率也只需要幾分鐘。薄面和組分的全息圖在幾分鐘內(nèi)即可形成，而傳統(tǒng)的方法是使用測角計，往往需要幾天的時間。

高精度

所有的ELDIM系統(tǒng)都遵循嚴(yán)格的加工過程、質(zhì)量控制，并經(jīng)過校正程序。每個CCD鏡頭的都具有較高的光譜靈敏度，通過分光光度方法控制每個濾波器的設(shè)計與光譜靈敏度。為了使系統(tǒng)達(dá)到高視角，我們研制了專門的工具和程序。

高可靠性

ELDIM獨立加工系統(tǒng)的每個關(guān)鍵組成部件。之所以具有較高的性能，主要是由于采用了的技術(shù)：磁流體拋光技術(shù)和拼接干涉方法等。為了降低直射光、衍生光的偏振，我們在表面涂覆不反光涂層，并在系統(tǒng)內(nèi)部實現(xiàn)光學(xué)校直。光學(xué)校直和膜層涂覆在無塵室內(nèi)進(jìn)行。所有系統(tǒng)在運輸前幾天會進(jìn)行集中測試以確保質(zhì)量。