尼康CMM激光掃描測(cè)頭(新）LC15Dx
革命性第三代激光掃描測(cè)頭
精度可媲美接觸式測(cè)頭
優(yōu)點(diǎn)
精度可媲美接觸式測(cè)頭
采用激光掃描測(cè)頭技術(shù)的 LC15Dx 達(dá)到了與接觸式測(cè)頭同級(jí)別的精度。在按照 ISO 10360-2 MPEP 和 ISO 10360-5 MPEAL 的測(cè)試中，LC15Dx 達(dá)到了與使用三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)和接觸式測(cè)頭相當(dāng)?shù)木?。但與接觸式測(cè)頭不同的是，LC15Dx 使用非接觸式 3D 激光三角測(cè)量法直接測(cè)量物體表面并消除了測(cè)頭補(bǔ)償誤差。掃描測(cè)頭內(nèi)部裝有熱穩(wěn)定器，可解決激光掃描測(cè)頭在未達(dá)到工作溫度時(shí)容易出現(xiàn)的不穩(wěn)定和延遲問(wèn)題。
操作輕松的多功能掃描
尼康的 ESP3 技術(shù)可針對(duì)每個(gè)測(cè)量點(diǎn)實(shí)時(shí)智能調(diào)整激光設(shè)定。它可以更高效地測(cè)量更多種類的表面材料、飾面、顏色及連接體（包括小尺寸和易碎部件）及混合材料的尺寸，且無(wú)需用戶干預(yù)、手動(dòng)調(diào)節(jié)以及表面噴粉。的濾光軟件過(guò)濾若干非正常反射，而高級(jí)日光濾光片則可吸收環(huán)境光。
更高的產(chǎn)品質(zhì)量檢測(cè)水準(zhǔn)
全局比較功能可提供產(chǎn)品外觀尺寸的全 3D 視圖。整個(gè)部件可與 CAD 模型進(jìn)行對(duì)比檢查，并用色彩映射高亮顯示需要關(guān)注的區(qū)域。還可使用彈出菜單、截面圖和幾何尺寸與公差（GD&T）庫(kù)進(jìn)行進(jìn)一步的研究和分析。用戶可根據(jù)需要讓設(shè)備自動(dòng)生成或簡(jiǎn)易或詳細(xì)的測(cè)量報(bào)告。
軟件
適合各類應(yīng)用的直觀軟件
LC15Dx 可使用包括 FOCUS 和 CAMIO在內(nèi)，適用于部件與 CAD 對(duì)比檢測(cè)和特征檢測(cè)的常用軟件工具包。
| 重要功能包括： | |
| • CAD 編程 • 擬合 • 部件與 CAD 對(duì)比 • 特征檢測(cè) • 葉片分析 • 色彩報(bào)告 | • 多傳感器三坐標(biāo)測(cè)量機(jī) • 離線編程 • 點(diǎn)云測(cè)量 • GD&T 庫(kù) • 教學(xué)編程 • 離線模擬 |
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應(yīng)用
測(cè)量高精度部件和小型幾何體
LC15Dx 在測(cè)量多種高精度部件和幾何體（包括精細(xì)部件、半鋼性部件和高性能材料）時(shí)具有顯著優(yōu)勢(shì)：
處理：生產(chǎn) － 研發(fā) － 逆向工程
方法：機(jī)械加工 － 模塑 － 模壓 － 澆鑄 － 鍛造
材料：金屬 － 塑料 － 橡膠 － 陶土 － 陶瓷 － 合成材料
表面處理：機(jī)械加工 － 拋光 － 電鍍 － 油漆 － 混色
結(jié)構(gòu)： 剛硬 － 柔軟 － 柔韌 － 易碎
特征： 表面 － 幾何特征 － 剖面 － 截面
多傳感器三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)
結(jié)合激光掃描和接觸式探測(cè)
某些情況下，采用單傳感器技術(shù)無(wú)法測(cè)量所有特征。LC15Dx 可結(jié)合使用選購(gòu)的接觸式測(cè)頭構(gòu)成多傳感器三坐標(biāo)多功能測(cè)量機(jī)。根據(jù)應(yīng)用需求，可在相同的檢測(cè)項(xiàng)目中單獨(dú)或共同使用這兩項(xiàng)技術(shù)。在三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)平臺(tái)上加裝切換和存儲(chǔ)支架選購(gòu)件后，可以自動(dòng)切換傳感器。
升級(jí)改造
提升當(dāng)前三座標(biāo)測(cè)量機(jī)的能力
使用 LC15Dx 來(lái)改進(jìn)您當(dāng)前的三座標(biāo)測(cè)量機(jī)是一種低成本高收益的解決方案。這種改進(jìn)基于現(xiàn)有的三座標(biāo)測(cè)量機(jī)控制器硬件，附之以兼容的測(cè)頭系統(tǒng)，構(gòu)成可進(jìn)行接觸及非接觸式測(cè)量的多傳感器三座標(biāo)多功能測(cè)量機(jī)。
LC15Dx 改進(jìn)套件可用于以下三座標(biāo)測(cè)量機(jī)控制器系統(tǒng)。
• Aberlink • Hexagon DEA • Renishaw
• Deva • Hexagon Brown & Sharpe • Wenze
• Coord3 • Hexagon Sheffield • Werth
• Dukin • Mitutoyo • Zeiss
規(guī) 格
| 探測(cè)誤差（MPEP）1 | 2.5μm (0.0001in) |
| 多測(cè)針測(cè)試（MpeAL）2 | 6μm (0.00024in) |
| 分辨率（點(diǎn)距） | 22μm (0.00087in) |
| 數(shù)據(jù)采集（近似值） | 70,000 點(diǎn)／秒 |
| 每線點(diǎn)數(shù)（近似值） | 900 |
| 測(cè)量溫度范圍 | 18-22°C (64.4-71.6°F) |
| 工作溫度范圍 | 10-40°C (50-104°F) |
| 預(yù)熱時(shí)間 | 0（零）秒 |
| 重量 | 370g (13oz) |
| 防護(hù)等級(jí) | IP30 |
| 電源 | 110/240VAc, 50/60Hz 5A |
| 增強(qiáng)掃描測(cè)頭性能（ESP3） | √ |
| 日光濾光片 | √ |
| 測(cè)頭兼容性3 | PH10M, PH10MQ, CW43, PHS |
| 激光類型 | 2 類（670μm） |
