從宏觀到微觀 — 讓缺陷無處遁形
- 大4倍的視野
- 為了檢測宏觀缺陷，Leica DM8000 M 和 DM12000 M 帶有可以 快速掃描大樣品的微觀/宏觀模式。宏觀放大功能可以攝取 約 40 mm 的視野 ― 幾乎比傳統(tǒng)掃描物鏡大 4 倍。在極短的 時間里就可以對整個掃描區(qū)域進行精確的缺陷掃描。
- 通過按鍵改變您的觀察
- 如果您想更近距離地觀察，只需按下一個鍵，從宏觀模式切 換到微觀模式而且可以選擇暗場、明場或微分干涉相襯觀察 缺陷。按下另一個鍵可以切換至分辨率更高的 UV 模式或帶 來全新視覺體驗的 OUV 模式。節(jié)省寶貴的時間。
- 新的相襯技術(shù)帶來超高分辨率
- 斜射照明是觀察邊角或芯片的工具，而紫外線對于 獲得更高分辨率是非常有用的。的 OUV 模式組合了這 兩種技術(shù)。從各個側(cè)面、用 3D 和分辨率觀察樣品。
- 深度暗場相襯
- 深度暗場相襯顯示了比傳統(tǒng)光學(xué)技術(shù)多得多的樣品細節(jié)。而 且較大的工作距離還可以保護樣品在檢驗過程中不會由于大 意而受到損壞。
針對嚴苛的生產(chǎn)環(huán)境
- 保持使用環(huán)境的清潔
- Leica DM8000 M/DM12000 M 內(nèi)置有 LED 照明。您會注意到這 種巧妙設(shè)計對您的工作環(huán)境的影響:沒有了礙事的燈罩，顯 微鏡周圍的氣流更為合理。潔凈間的清潔解決方案。
- 高亮度 LED 的使用壽命極長，而耗電量卻極低。無需更換燈 泡，也不用為了進行維護而關(guān)機。有助于環(huán)保，同時節(jié)約成 本，還可以提高生產(chǎn)率。
- 連續(xù)操作
- 電動物鏡轉(zhuǎn)換盤帶有保護罩，和整個系統(tǒng)一樣也是針對最嚴 苛的潔凈間要求設(shè)計的。這種解決方案可以讓顯微鏡在嚴苛 的條件下長期使用。
- 樣品的有效保護
- 聚焦停止功能采用機械和電子方式協(xié)同工作，保護樣品不會 受到意外損壞。更大的聚焦縱向調(diào)節(jié)范圍和可以單獨延伸的 工作距離可以適應(yīng)不同的樣品高度，從微電子零部件到拋光 的金屬切片、復(fù)合材料或礦物。
- 系統(tǒng)集成意味著一體化的供應(yīng)
- 有了 Leica DM8000 M/DM12000 M，您就擁有了一套完整的 系統(tǒng):搭配的顯微鏡、攝像頭和 Leica Application Suite (LAS) 軟件。
- 還可以選擇晶片裝入設(shè)備，真空晶片夾等匹配附件和安裝 INSPEC IS 檢驗軟件或 INSPEC TF 薄膜厚度測量軟件，把 Leica DM8000 M/DM12000 M 升級成為一個檢驗系統(tǒng)。
的人體工學(xué)與便捷性
- 人體工學(xué)意味著更高的質(zhì)量
- 事實已經(jīng)證明按照人體工學(xué)設(shè)計的工作場所有助于提高生產(chǎn)率和工作質(zhì)量?？梢詥为氄{(diào)節(jié)的人工學(xué)鏡筒和高度可調(diào)的聚 焦按鈕能夠滿足不同用戶的要求，Leica DM8000 M/DM12000 M 非常適于日常檢驗和其它用途。
- 所有控制裝置都易于操作，用戶的雙眼和雙手無需離開顯微 鏡就可以切換至不同的相襯技術(shù)或照明。攝像頭的快門釋放 鍵也集成在顯微鏡支架上。方便用戶，節(jié)約時間。
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- 幫助防止用戶犯錯
- 即使是毫無顯微鏡使用經(jīng)驗的用戶也可以很容易地使用 Leica DM8000 M/DM12000 M。控制裝置通過記憶功能被預(yù)先分配好，從而減少了操作出錯的風(fēng)險。
- 智能支持
- 利用內(nèi)置的相襯管理系統(tǒng)，按下按鈕即可選擇相襯 ― 相應(yīng)地調(diào)整相關(guān)參數(shù)。內(nèi)置的照明管理系統(tǒng)可以根據(jù)所選物鏡自動調(diào)節(jié)照明。超簡單的操作有助于避免錯誤和節(jié)省時間。
- 為了檢驗空白晶片等強反射表面，還有一個焦點探測器的智能功能，可以快速對焦感興趣的細節(jié)。
- 在技能水平不同的多個用戶使用同一臺顯微鏡時，不同的用戶可以輕松而明確地確定各自的檢驗任務(wù)。
| 產(chǎn)品參數(shù) | |
| 參數(shù)/型號 | Leica DM 12000M |
| 光學(xué)系統(tǒng) | Leica HC光學(xué)器件(光學(xué)系統(tǒng)校正至無限遠) |
| 觀察鏡筒 | 三目人工學(xué)鏡筒，直立和同向圖像 |
| 切換位置(目鏡/攝像頭): 100/0 和0/100，100/0 和50/50 | |
| 宏觀成像 | 超廣視野概覽圖像，樣品上掃描區(qū)域40 mm |
| 照明系統(tǒng) | 全LED入射光照明;觀察技術(shù)：亮場、暗場、微分干涉相襯、定性偏振、斜射照明、紫外線、斜射紫外線 全LED透射光照明;觀察技術(shù):亮場、定性偏振 |
| 狀態(tài)反饋 | 正面的狀態(tài)指示器 |
| 工作間隔指示器(儀器背面) | |
| 操作支持 | 內(nèi)置相襯管理器及科勒照明管理系統(tǒng) |
| 顯微鏡載物臺 | 手動檢驗載物臺12 x 12；302 x 302 mm移動范圍，內(nèi)置快速調(diào)節(jié) |
| 掃描載物臺12x 12；302 x 302 mm移動范圍，電動，4 mm高度 | |
| 控制單元 | 操縱桿，帶4個可自由編程的功能鍵 |
| Leica SmartMove，x、y、z控制，帶4個可自由編程的功能鍵 | |
| Leica STP6000 SmartTouch, x、y、z控制，帶4個可自由編程的功能鍵 | |
| 物鏡轉(zhuǎn)換盤 | 電動、亮場/暗場物鏡 (M32)、6 位置 |
| 聚焦 | 耐用型手動2級聚焦，粗調(diào)和微調(diào)模式; 35 mm移動范圍;高度可調(diào)式聚焦手柄 |
| 精準3級聚焦，粗調(diào)、微調(diào)和超微調(diào)模式; 35 mm調(diào)節(jié)范圍;高度可調(diào)式聚焦手柄 | |
| 電動2級聚焦； 35 mm移動范圍；強重復(fù)能力；齊焦補償 | |
| 電氣系統(tǒng) | 供電電壓：100120/220- -240 V AC (%)，50/60 Hz |
| 重量 | 約52kg(其中顯微鏡約36.5kg) |
| 應(yīng)用 | 圓晶、電子元器件、金屬、陶瓷、高分子材料、粉塵顆粒 |
外觀尺寸
