型號(hào):KTB系列
產(chǎn)品用途:
本設(shè)備適用于各類電工電子產(chǎn)品及其他產(chǎn)品、零部件和材料進(jìn)行高低溫恒定和漸變、突變、濕熱試驗(yàn)等環(huán)境模擬可靠性試驗(yàn)。
技術(shù)參數(shù):
?GB-2423.1-89(IEC68-2-1)試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法。
?GB-2423.2-89(IEC68-2-2)試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法。
?GJB360.8-87(MIL-STD-202F)高溫壽命試驗(yàn)。
?GBJ150.3(MIL-STD-810D)高溫試驗(yàn)方法。
?GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗(yàn)方法。
?GB2423.3-93(IEC68-2-3)試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法。
?GB2423.4-93(IEC68-2-30)試驗(yàn)Db:交變濕熱試驗(yàn)方法。
?GJB150.9-93(MIL-STD-810D)濕熱試驗(yàn)方法。