R&S FSW 頻譜與信號分析儀
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R&S FSW 頻譜與信號分析儀
全新高性能R&S FSW信號與頻譜分析儀滿足客戶高性能需求，提供低相位噪聲，寬分析帶寬和直觀性操作，使得測試工作快速簡單。
主要特點(diǎn)
? 頻率范圍覆蓋從2 Hz 至 8/13.6/26.5/43.5/50/67/85 GHz （加外部諧波混頻器可擴(kuò)展至110GHz）
? 相位噪聲低至-137dBc/Hz 1GHz,10kHz頻偏
? WCDMA 鄰信道功率比測試-88dB動態(tài)范圍(噪聲消除功能打開)
? 2GHz分析帶寬
? 8 GHz范圍內(nèi)低至0.4dB總測量不確定度
? 高分辨率的12.1寸觸摸屏方便操作
? 支持多任務(wù)并行測量及顯示
特點(diǎn)
射頻性能滿足苛刻需求
? 的相位噪聲 – 是雷達(dá)和通信應(yīng)用振蕩器測試的理想工具
振蕩器，頻率合成器和發(fā)射機(jī)系統(tǒng)的研發(fā)人員將從R&S FSW突出的相位噪聲測量動態(tài)范圍性能中獲益。在偏離載波中心頻率10kHz位置，R&S FSW相位噪聲在1GHz中心頻率處可達(dá)到-137dBc（1Hz），而在10GHz中心頻率處可達(dá)到-128dBc（1Hz）。偏離載波中心頻率100kHz位置，相位噪聲在相同中心頻率處分別為-110dBc（1Hz）和-90dBc（1Hz）. 在相位噪聲性能上R&S FSW超越前一代分析儀多達(dá)10dB。
? 低顯示平均噪聲電平帶來出色的雜散測試動態(tài)范圍
顯示平均噪聲電平（DANL）在未使用預(yù)放大器條件下，2GHz頻率處低至-159dBm（1Hz）而25GHz頻率處低至-150dBm（1Hz）。R&S FSW可在寬頻率范圍內(nèi)提供快速而可靠的雜散測試。顯示平均噪聲電平可通過選擇使用噪聲消除功能而進(jìn)一步改善13dB。用戶可確認(rèn)之前隱藏在噪底之下的極小雜散信號從而有效地優(yōu)化發(fā)射機(jī)系統(tǒng)。
? 內(nèi)置高通濾波器簡化諧波測試
R&S FSW可選配可切換使用的高通濾波器（R&S FSW-B13）進(jìn)行頻率至1.5GHz的發(fā)射機(jī)系統(tǒng)諧波測試。與傳統(tǒng)的頻譜分析儀相比可獲得明顯的動態(tài)范圍改善。無需外部濾波器，可方便針對GSM, CDMA, WCDMA, LTE 和TETRA 系統(tǒng)進(jìn)行測試系統(tǒng)的搭建。
? 低頻段內(nèi)提供高選擇性
? 高精確度
? 單獨(dú)的接收機(jī)通路使得在1GHz頻率范圍內(nèi)獲得不可比擬的動態(tài)范圍
面向未來
? 高達(dá)500MHz解調(diào)帶寬
多載波或者寬帶應(yīng)用的功率放大器為了提高效率而進(jìn)行的線性化工作或者通信系統(tǒng)自身占用帶寬的增加，使得對于分析帶寬的需求持續(xù)增加，面對挑戰(zhàn)，R&S FSW提供高達(dá)500MHz的分析帶寬滿足測試需求。
配置 | 分析帶寬 | 應(yīng)用 |
標(biāo)準(zhǔn)配置 | 10 MHz | ? 單載波標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)用與測量，比如WCDMA, cdma2000 , TD-SCDMA,TETRA |
R&S FSW-B28 | 28 MHz | ? 調(diào)制測量 WiMAX™, LTE, WLAN 802.11a/b/g 信號 |
R&S FSW-B40 | 40 MHz | ? 調(diào)制測量 802.11n 信號 |
R&S FSW-B80 | 80 MHz | ? 放大器特征化與線性化 |
R&S FSW-B160 | 160 MHz | ? 放大器特征化與線性化 |
R&S FSW-B320 | 320 MHz | ? 放大器特征化與線性化 |
R&S FSW-B500 | 500 MHz | ? 放大器特征化與線性化 |
? 高無雜散動態(tài)范圍 > 100 dBc
當(dāng)分析I/Q數(shù)據(jù)時，除ADC分辨率之外，無雜散動態(tài)范圍（SFDR）也是重要指標(biāo)。由于無雜散動態(tài)范圍（SFDR）> 100 dBc，因此R&S FSW在線性化放大器或測量EVM時擁有的測量精度。
分析帶寬 | SFDR |
10MHz | 100dBc |
80MHz | 80dBc |
160MHz | 70dBc |
? 大IQ信號存儲深度無縫記錄長信號序列
分析帶寬 | 采樣速率 | 記錄時間 |
10MHz | 12.5 Msample/s | 36.9s |
20MHz | 25 Msample/s | 18.4s |
40MHz | 50 Msample/s | 9.2s |
80MHz | 100 Msample/s | 4.6s |
160MHz | 200 Msample/s | 2.3s |
320MHz | 400 Msample/s | 0.49s |
500MHz | 600 Msample/s | 0.76s |
設(shè)計便捷 – 直觀顯示結(jié)果
? 優(yōu)化用戶向?qū)нM(jìn)行有效操作
° 平面化的菜單架構(gòu)
° 透明窗口
° 工具欄
° 縮放功能
° 自適應(yīng)窗口規(guī)劃
? 多視窗：多個測試結(jié)果可同時顯示
分析雷達(dá)系統(tǒng)的理想工具
? 快速識別和分析發(fā)射雜散信號
為了識別發(fā)射機(jī)或振蕩器的雜散發(fā)射，通常需要在窄分析帶寬下做寬帶測量。R&S FSW提供極短的掃描時間，即使在1kHz分辨率帶寬，8GHz掃描頻率范圍和電平小于-100dBm條件下，R&S FSW也能夠在10秒內(nèi)給出測試結(jié)果。使用縮放功能或者多視窗功能，用戶可以在檢查發(fā)射雜散細(xì)節(jié)的同時保持對整體頻譜的觀測。
? 低相位噪聲適合振蕩器測試
為了達(dá)到高分辨率，雷達(dá)系統(tǒng)通常配備高穩(wěn)晶振，他們能夠精確地確認(rèn)物體的運(yùn)動速度。射頻指標(biāo)優(yōu)異，R&S FSW是測量振蕩器的理想選擇。
? 一鍵完成脈沖參數(shù)測量
特征化雷達(dá)系統(tǒng)需要測量大量的脈沖參數(shù)。R&S FSW-K6選件測量– 一次按鍵 –測試所有相關(guān)參數(shù)，如脈沖寬度，脈沖周期和脈沖上升/下降時間，脈沖內(nèi)的功率平穩(wěn)度，脈內(nèi)相位調(diào)制以及眾多脈沖的趨勢分析。用戶選擇的結(jié)果可同時在屏幕顯示。R&S FSW可以在幾秒鐘內(nèi)給出雷達(dá)系統(tǒng)的測試全景圖。
? 分析極短的脈沖上升和下降時間
分析極短的脈沖需要大的動態(tài)范圍和大的分析帶寬，R&S FSW皆而有之。
分辨信號間的相互影響
? 多標(biāo)準(zhǔn)無線分析儀
R&S FSW提供新多標(biāo)準(zhǔn)無線分析儀功能，此功能在FSW的160MHz分析帶寬內(nèi)可以同時測量處于不同頻率點(diǎn)的不同標(biāo)準(zhǔn)信號（比如GSM, WCDMA, LTE信號）
快速測量
? 高測量速率和快速掃描時間高達(dá)1000次掃描/秒。
? 儀表設(shè)置間的快速切換
? 有效的測量功能加速操作過程
° 頻率列表模式：使用單個遠(yuǎn)程控制命令可以觸發(fā)300個頻點(diǎn)的不同頻譜儀設(shè)置進(jìn)行快速測量
° 一次掃描在時域完成不同功率電平的測量（多結(jié)果marker）
° 0.1Hz分辨率條件下，頻率計數(shù)器< 50ms
° 在時域使用信道濾波器或在頻域使用FFT掃描完成快速鄰道功率測試
? 內(nèi)置支持R&S NRP-Zxx功率探頭
R&S FSW測量速度 | ||
本機(jī)測量和顯示更新 | 1001 掃描點(diǎn) | 1.25 ms (800/s) (測量值) |
程控測量, 1000次掃描平均 | 1001 掃描點(diǎn) | 1.0 ms (1000/s) (測量值) |
通過網(wǎng)絡(luò)接口程控測量包括數(shù)據(jù)傳遞 |
| 5 ms (200/s) (測量值) |
Marker 峰值搜索 |
| 1.7 ms (測量值) |
設(shè)置中心頻率包括數(shù)據(jù)傳遞 | f ≤ 8 GHz | 15 ms (測量值) |
| f > 8 GHz | 65 ms (測量值) |
安全投資
? 與科技發(fā)展保持同步
? R&S Legacy Pro – 輕松替代淘汰分析儀
R&S FSW支持其它Rohde & Schwarz信號與頻譜分析儀，比如R&S FSU和R&S FSQ，同時也支持其它廠家的儀表(R&S Legacy Pro) 的遠(yuǎn)程控制命令集。使用R&S FSW替代淘汰分析儀毫無問題。大多數(shù)情況下在測試過程中充分了驗(yàn)證R&S FSW的命令反饋。眾多成功使用R&S FSV或者R&S FSU替代淘汰分析儀案例已經(jīng)證明這一方法的有效性。
? 保護(hù)測試機(jī)密數(shù)據(jù)
保護(hù)測試機(jī)密數(shù)據(jù)，用戶可以使用獨(dú)立的固態(tài)硬盤（R&S FSW-B18 選件）更換R&S FSW的內(nèi)置固態(tài)硬盤，避免儀表在外送校驗(yàn)過程中任何機(jī)密數(shù)據(jù)離開實(shí)驗(yàn)室。分析儀自身的校準(zhǔn)數(shù)據(jù)與用戶數(shù)據(jù)分別獨(dú)立存儲。
