高頻雷達物位計和調(diào)頻雷達物位計一樣嗎？

大多數(shù)人能分清高頻雷達物位計和低頻雷達物位計，但是說到高頻雷達物位計和調(diào)頻雷達物位計是否一樣這個問題時，就丈二和尚摸不到頭腦了，那么今天小編就來答疑解惑，以我司的26G高頻雷達物位計和80G調(diào)頻雷達物位計為例說明。

一般來說雷達物位計的高頻、低頻、調(diào)頻是指雷達物位計的頻率，這里有一個誤區(qū)，很多用戶認為雷達物位計的精度是由頻率決定的，其實并不是，它受回波處理算法以及信號發(fā)射接收方式影響。以我司26G高頻雷達物位計為例，它的原理是雷達物位天線發(fā)射較窄的微波脈沖，經(jīng)天線向下傳輸。微波接觸到被測介質(zhì)表面后被反射回來再次被天線系統(tǒng)接收，將信號傳輸給電子線路部分自動轉(zhuǎn)換成物位信號。它的優(yōu)點有，采用非接觸雷達，無磨損，無污染；天線尺寸小，便于安裝；波長更短，對在傾斜的固體表面有更好的反射；測量盲區(qū)更小，對于小罐測量也會取得良好的效果；幾乎不受腐蝕、輕微泡沫影響；幾乎不受大氣中水蒸氣、溫度和壓力變化影響；嚴重粉塵環(huán)境不會影響電磁波工作，高信噪比，即使在波動的情況下也能獲得更優(yōu)的性能；波速聚集效果好，配合多種類型天線，可以滿足90%的工況場合。

而我們的80G調(diào)頻雷達物位計的測量原理是，調(diào)頻連續(xù)波雷達物位計的通用原理為雷達在罐頂發(fā)射電磁波，電磁波碰到介質(zhì)反射后被雷達接收，接收信號與發(fā)射信號之間的頻率差δf與介質(zhì)表面的距離R成一定比例關(guān)系：R=C（速度）*δf（頻率差）/2/K（調(diào)頻斜率）。因為光速C和調(diào)頻斜率K已知，因此估算出頻率差δf，便可得到雷達安裝位置料面的距離R，再通過已知的罐體總高，減去雷達到料面的空間距離（簡稱空高），得出料位的高度。它的優(yōu)點是采用毫米波雷達，測量精度可達±2mm，測量最小盲區(qū)為0.1m；天線尺寸小，滿足了多種工況場合測量；多種透鏡天線，發(fā)射角小，能量集中，回波信號強，同等工礦條件下，相比于其他雷達產(chǎn)品可靠性高；擁有更強的穿透性，在有粘附及凝結(jié)的情況下也可以正常使用；動態(tài)信號范圍更大，對于低介電常數(shù)介質(zhì)的測量更加穩(wěn)定；多種測量模式，快速測量模式下雷達反應(yīng)時間小于1S。

通過上述的簡單介紹，用戶們肯定發(fā)現(xiàn)了80G雷達物位計似乎優(yōu)勢相比于26G雷達物位計要大的多，但是其實在實際工況測量中，26G雷達物位計能測的，80G雷達物位計不一定合適，過去我們也有相關(guān)案例。在選擇時，我們要選合適自己的，而不是看哪款產(chǎn)品優(yōu)點多，就盲目選擇。