完整的生產測試，無需犧牲空間
滿足您的所有生產測試需求，在同一空間內有兩條隔離的寬動態(tài)源和測量通道。 每條 40 W 通道提供 6% 位精確分辨率源，在小于 100 μs 脈沖寬度和設定值的 0.1% 范圍內，測量 10 A到 0.1 fA 和 200 V 到 100 nV。
特點
在同一空間內可有 2 條通道
最寬的電壓和電流動態(tài)范圍
高度準確的 100 μs 脈沖可擴展直流生產測試能力
嵌入式腳本提供生產吞吐量
滿足您的所有生產測試需求，在同一空間內有兩條隔離的寬動態(tài)源和測量通道。 每條 40 W 通道提供 64 位精確分辨率源，在小于 100 μs 脈沖寬度和設定值的 0.1% 范圍內，測量 10 A 到 0.1 fA 和 200 V 到 100 nV。
特點
消除與 PC 之間耗時的總線通信
高級數據處理和流量控制
通用型探頭/處理程序控制
系統(tǒng)性能，無主機
TSP-Link@ 技術支持擴展多達 64 條通道，支持高速、SMU-per-pin并行測試（而不使用主機）。<500 ns 時所有通道同時獨立受控。
特點
支持 <500 ns 通道間同步
可達 32 條或 64 條獨立 SMU 通道
隨著測試要求變化輕松重新配置
適合生產的低電流性能
2635B 和 2636B SMU在100 pA范圍內提供 0.1 fA， 10-16 分辨率，減少超低電平樣本檢定煩惱，確保生產成功。
特點
在電流范圍內穩(wěn)定時間快 7 倍
具有市面上的低電流分辨率
直接三芯同軸連接簡化了設置
