N5235B網(wǎng)絡(luò)分析儀是Keysight Technologies(原安捷倫科技)生產(chǎn)的一款高性能矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀,專門用于對無源元器件和簡單的有源器件進行基本分析。它適用于對成本敏感的應(yīng)用場合,能夠在高達50 GHz的頻率范圍內(nèi)精確測量S參數(shù),具有出色的性價比,特別適合微波器件制造測試。該分析儀可以配置為經(jīng)濟型解決方案,用于信號完整性測量和材料表征。它配備了多點觸控屏和直觀的用戶界面,使得元器件特性分析更加高效
N5235B的技術(shù)規(guī)格包括:
-頻率范圍:可選300 kHz至6 GHz, 10 MHz至20 GHz, 10 MHz至40 GHz, 或10 MHz至50 GHz。
-動態(tài)范圍:系統(tǒng)動態(tài)范圍達122 dB。
-測量速度:每點測量時間快可達4至9微秒。
- 系統(tǒng)和接收機的動態(tài)范圍高達110 dB。
- 提供2端口和4端口配--置選項,適應(yīng)不同測試需求。
-內(nèi)置雙端口源,支持122 dB的動態(tài)范圍。
-測量點數(shù)可達32,001點,通道數(shù)為32個。
-精度高,適合精密測量,如反射系數(shù)(S11)、傳輸系數(shù)(S21)等。
注意事項
在使用N5235B VNA測量反射系數(shù)時,還需要注意以下幾點:
1. 合理選擇校準方法。不同的被測設(shè)備對校準方法的要求會有所不同,用戶需要根據(jù)具體情況選擇最合適的校準方法。
2. 小心處理測量接口。測量接口是VNA和被測設(shè)備之間的關(guān)鍵連接點,需要注意保持清潔、避免損壞。接口的不良會顯著影響測量精度。
3. 注意測量環(huán)境條件。溫度、濕度、電磁干擾等環(huán)境因素都會對VNA的測量結(jié)果產(chǎn)生影響,需要盡量控制測量環(huán)境。
4. 合理設(shè)置測量參數(shù)。頻率范圍、掃描點數(shù)、中頻帶寬等參數(shù)的選擇會影響測量速度、動態(tài)范圍和分辨率,用戶需要權(quán)衡取舍。
是德科技N5235B矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀是一款性能出色的高頻測量設(shè)備,其測量反射系數(shù)的功能在射頻和微波領(lǐng)域廣泛應(yīng)用。通過合理的連接、校準、測量和數(shù)據(jù)分析,用戶可以充分發(fā)揮N5235B的測量能力,獲得準確可靠的反射系數(shù)測試結(jié)果,為系統(tǒng)設(shè)計和優(yōu)化提供重要依據(jù)。
N5235B網(wǎng)絡(luò)分析儀以其優(yōu)秀的性價比、寬廣的頻率覆蓋范圍和強大的測量能力,成為許多研發(fā)和生產(chǎn)環(huán)境中的工具