N5245B PNA-X矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀是一種微波測(cè)試儀器,主要用于測(cè)量放大器、混頻器和變頻器等有源器件的特性。其基本原理基于矢量網(wǎng)絡(luò)分析技術(shù),具體包括以下幾個(gè)關(guān)鍵方面:
1. 信號(hào)源與激勵(lì):N5245B內(nèi)置兩個(gè)信號(hào)源,可以生成滿(mǎn)足測(cè)試需求的射頻信號(hào)。這些信號(hào)被用來(lái)激勵(lì)被測(cè)器件(DUT),以便測(cè)量其性能參數(shù)。
2. 信號(hào)分離與測(cè)量:通過(guò)定向耦合器和功分器,N5245B能夠?qū)⑤斎胄盘?hào)分離為參考信號(hào)和測(cè)試信號(hào)。參考信號(hào)用于校準(zhǔn),測(cè)試信號(hào)則被送入被測(cè)器件。
3. 接收與分析:N5245B配備多個(gè)接收機(jī),用于捕獲被測(cè)器件的輸出信號(hào)和反射信號(hào)。這些信號(hào)的幅度和相位信息被用來(lái)計(jì)算S參數(shù),這是描述器件傳輸和反射特性的重要參數(shù)。
4. S參數(shù)測(cè)量:S參數(shù)(散射參數(shù))是矢量網(wǎng)絡(luò)分析的核心,它們描述了射頻器件在不同頻率下的傳輸和反射特性。N5245B通過(guò)測(cè)量S11(反射系數(shù))、S21(傳輸系數(shù))等參數(shù),全面表征器件性能。
5. 誤差校正:為了提高測(cè)量精度,N5245B采用矢量誤差校正技術(shù),消除測(cè)試系統(tǒng)中的固有誤差,如電纜、連接器的相位和幅度誤差。
6. 線性和非線性測(cè)量:除了基本的線性參數(shù),N5245B還支持非線性測(cè)量,如諧波失真、交調(diào)失真等,通過(guò)內(nèi)部信號(hào)源和脈沖調(diào)制器實(shí)現(xiàn)。
7. 多功能應(yīng)用:N5245B支持同軸、固定和晶圓環(huán)境中的測(cè)量,配備靈活的開(kāi)關(guān)和RF接入點(diǎn),適用于多種測(cè)試配置。
8. 動(dòng)態(tài)范圍與精度:N5245B具有寬動(dòng)態(tài)范圍(124 dB)和高輸出功率(13 dBm),確保了從低到高功率范圍內(nèi)的精確測(cè)量。
9. 用戶(hù)界面與軟件:多點(diǎn)觸控屏和直觀的用戶(hù)界面簡(jiǎn)化了操作,測(cè)量應(yīng)用軟件提供了豐富的功能,幫助用戶(hù)快速進(jìn)行復(fù)雜測(cè)量。
通過(guò)這些核心功能,N5245B PNA-X矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀能夠提供全面的射頻器件特性分析,支持研發(fā)和生產(chǎn)中的高精度測(cè)量需求。