MicroTEQ-S1顯微光譜測量系統(tǒng)，集成熒光、拉曼和反射光譜測量功能。通過把
光譜模塊集成到顯微鏡上，實現(xiàn)顯微熒光、拉曼和其他光譜信息的測量。系統(tǒng)由
光譜儀、激光器、光源、顯微鏡等部分構(gòu)成，自由靈活，幫助用戶快速對樣品微
觀結(jié)構(gòu)，微觀光譜信息的測試和分析；此外系統(tǒng)可以加裝二維電控掃描臺，通過
軟件控制，實現(xiàn)光譜二維掃面測量功能。
應(yīng)用范圍
- 微流控；
- 植物葉片研究；
- 激光材料評價；
- 生物和細胞測試；
- 光子晶體測試；
- 珠寶、古籍檢測;
- 納米材料分析；
* 圖片僅供參考
其他模式
- 熒光測量：顯微光譜測量模塊內(nèi)部集成了熒光測試光路，通過SMA905光纖
接口與熒光激光器和熒光光譜儀連接。其中連接激光器的SMA905接頭，可
以改裝成為自由空間光作為輸入光源，從而得到更強的激發(fā)功率或更好的光
斑質(zhì)量。模塊中帶濾光片插槽，可以放置適配不同激發(fā)波長的激發(fā)濾光片和
發(fā)射濾光片，實現(xiàn)不同激發(fā)波長的顯微熒光測量。
- 顏色和反射測量：使用光纖把鎢燈光源和顯微光譜測量模塊連接起來，共用
熒光光路，即可實現(xiàn)顯微反射光譜測量和顯微顏色測量功能。
二維Mapping：選配二維電動平臺，使用操作軟件設(shè)置面掃描采樣， 獲取一
定范圍內(nèi)的逐點掃描光譜數(shù)據(jù)，可用于表征材料表面微觀結(jié)構(gòu)和光譜成像。同
時測試結(jié)果還可以通過圖像繪制的方式呈現(xiàn)出來。
