
ORTEC GWL系列高純鍺(HPGe)井型探測(cè)器是小樣品低水平計(jì)數(shù)的理想解決方案。 的離子注入探測(cè)器井具有超薄死層(僅0.3 μm厚),因此可提供的有用能量范圍(10 keV至10 MeV)。與其他穿透型鍺晶體孔的井型探測(cè)器不同,ORTEC的井型探測(cè)器有一個(gè)“盲孔”,

GWL系列功能:
- 接近4π幾何張角;小樣品的計(jì)數(shù)效率高。
- 譜測(cè)量從10 keV到10 MeV。
- 有效體積達(dá)400毫升。
- 的離子注入盲孔。
- 超大井(1.55 x 4.0厘米)標(biāo)準(zhǔn)。
資料 +
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GWL配置指南
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GWL配置指南(A4)
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半導(dǎo)體探測(cè)器概述
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半導(dǎo)體探測(cè)器的物理學(xué)綜述
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可選附件 +
遠(yuǎn)程前置放大器選件(-HJ)
此選件讓所有前置放大器和高壓接頭位于屏蔽之外,并將前置放大器和高壓濾波器從Ge晶體的“視線”中移出。對(duì)于低本底應(yīng)用,此選件消除了可能增加屏蔽內(nèi)部本底的任何可能的前置放大器或高壓濾波器組件。低本底選件(-LB-AWT和-XLB-AWT)
低本底GWL探測(cè)器配有無(wú)氧(OFHC)銅端蓋,帶有0.02英寸壁厚的低本底高純度鋁井。訂購(gòu)信息 +
請(qǐng)參閱GWL(井)P型同軸輻射探測(cè)器配置指南配置探測(cè)器。