這款是美國(guó)ANASYS公司的革命性設(shè)備,針對(duì)的是微區(qū)紅外表征,突破了傳統(tǒng)紅外設(shè)備分辨率的限制,利用AFM(原子力顯微鏡)、納米級(jí)熱分析儀和納米級(jí)紅外的結(jié)合,在用AFM掃出形貌圖的同時(shí),可測(cè)得納米級(jí)尺度上樣品的物理和化學(xué)性質(zhì),這是FT-IR和ATR-IR所不能有的;并且是對(duì)傳統(tǒng)DSC的革命性突破,通過高速微區(qū)加熱的熱分析(每分鐘可達(dá)60000℃的加熱),得到樣品的真實(shí)融點(diǎn)和結(jié)晶性情況,用此設(shè)備測(cè)得樣品TG溫度比DSC測(cè)得低了20℃。