渦流測厚儀 型號:TX20-ED400庫號:M183239 查看hh儀器適于測量各種非磁性金屬基體上絕緣性覆蓋層的厚度。主要用于測量鋁合金型材表面的陽極氧化膜或涂層厚度,還可用于測量其它鋁板、鋁管、鋁塑板、鋁零件表面的陽極氧化膜或涂層厚度,測量其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度,測量塑料薄膜及紙張厚度。
參數(shù) 測量范圍: 0~500 μm測量精度: 0~50 μm:±1 μm;50~500 μm:±2%分辨率: 0~50 μm:0.1 μm;50~500 μm:1 μm;0~500 μm:1 μm(可選)使用溫度: 5~45℃外形尺寸: 150 mm×80 mm×30 mm 重量: 280 g