ZLD200-4T三目倒置金相顯微鏡
本儀器可廣泛用于機械工業(yè)的金相組織觀察分析，地礦部門對礦物的分析研究，電子工業(yè)中的晶體、集成電路、微電子等方面的觀察測量，是工廠、高等院校、科研機構及電子工業(yè)的*。穩(wěn)定、高品質的光學系統(tǒng)使成像更清晰，襯度更好，簡潔而新穎的外觀更符合現(xiàn)代潮流，人性化的設計，簡便的操作使您從繁重的工作壓力中解放出來。
ZLD200-4T三目倒置金相顯微鏡
： 趙
本儀器可廣泛用于機械工業(yè)的金相組織觀察分析，地礦部門對礦物的分析研究，電子工業(yè)中的晶體、集成電路、微電子等方面的觀察測量，是工廠、高等院校、科研機構及電子工業(yè)的*。穩(wěn)定、高品質的光學系統(tǒng)使成像更清晰，襯度更好，簡潔而新穎的外觀更符合現(xiàn)代潮流，人性化的設計，簡便的操作使您從繁重的工作壓力中解放出來。
技術規(guī)格：
觀察頭：45°傾斜，鉸鏈式三目
目鏡：WF10×/18mm
WF10×/18mm,帶0.1mm十字分劃板
物鏡：195平場金相物鏡：4×/0.1W.D.25mm、10×/0.25W.D.11mm、
20×/0.4W.D.9mm、40×/0.6W.D.3.8mm、
平臺：雙層移動平臺，平臺尺寸172mm×142mm ，移動范圍30mm×30mm
濾色片：插板式濾色片（綠色、藍色、黃色）
調焦：粗、微動同軸調焦，采用齒輪齒條傳動機構微動格值0.002mm
光源：帶孔徑可變光闌和視場可變光闌12V/20W，AC85V-230V，亮度可調節(jié)
偏光裝置：檢偏鏡可360度轉動，起偏鏡、檢偏鏡均可移出光路
檢測工具：0.01mm測微尺
可供附件：
專業(yè)金相圖像分析軟件
130萬、200萬、300萬、500萬像素 CMOS電子目鏡
195平場金相物鏡：50×80×100×
攝影裝置及CCD接口0.5×、0.57×、0.75×
簡易暗場裝置
