Agilent 8509B/C 偏振控制分析儀
Agilent 8509B/C 偏振控制分析儀
Agilent 8509B/C 偏振控制分析儀
安捷倫8509B光波偏振分析儀
安捷倫8509B光波偏振分析儀系統(tǒng)的*個(gè)系統(tǒng)是一個(gè)提供校準(zhǔn)的偏振的光信號(hào)的測(cè)量和組件。這些新功能提供創(chuàng)新的硬件，軟件和數(shù)學(xué)。硬件的貢獻(xiàn)包括一個(gè)的四個(gè)二極管檢測(cè)方案，包括1200納米至1600納米。單波長，1300和1550 nm的法布里 - 珀羅激光器，以及一個(gè)自動(dòng)的三態(tài)偏振發(fā)生器中所提供內(nèi)安捷倫8509B。也可用于外部單波長或波長掃描來源。兩個(gè)自動(dòng)偏振模色散（PMD）測(cè)量;瓊斯矩陣本征分析和掃描波長IME的狀態(tài)和偏振度的測(cè)量
快速，自動(dòng)測(cè)量的光學(xué)元件中的偏振相關(guān)損耗
HP8509B光偏振分析儀
AGILENT 8509B光波極化分析儀可對(duì)光信號(hào)或光器件進(jìn)行校準(zhǔn)過的極化測(cè)試。 這些功能是建立在硬件、軟件和算法革新性突破的基礎(chǔ)之上的.8509B可提供包括極化狀態(tài)測(cè)試、極化模式色散測(cè)試、極化相關(guān)損耗測(cè)試和極化保偏光纖對(duì)準(zhǔn)等功能。
特點(diǎn)：
1.對(duì)光信號(hào)和光器件進(jìn)行全面的極化狀態(tài)分析
2.兩種PMD分析方法：波長掃描法和JONES矩陣法
3.極化保偏光纖的對(duì)準(zhǔn)
AGILENT 8509B光波極化分析儀可對(duì)光信號(hào)或光器件進(jìn)行校準(zhǔn)過的極化測(cè)試。 這些功能是建立在硬件、軟件和算法革新性突破的基礎(chǔ)之上的.8509B可提供包括極化狀態(tài)測(cè)試、極化模式色散測(cè)試、極化相關(guān)損耗測(cè)試和極化保偏光纖對(duì)準(zhǔn)等功能。
Agilent 8509C產(chǎn)品簡介
Agilent 8509C光偏振分析儀覆蓋L波段，可對(duì)光信號(hào)和元件進(jìn)行寬工作范圍的測(cè)量。自動(dòng)的測(cè)量步驟簡化了PMD、PDL和保偏光纖對(duì)準(zhǔn)。對(duì)于10至40Gb/s測(cè)試，8509C可測(cè)量至0.01ps的偏振模式色散。對(duì)光信號(hào)和材料偏振特性的快速和精確的測(cè)量可幫助開發(fā)更高性能的光元件和系統(tǒng)，以及低成本的制造流程。
性能特性：
波長工作范圍： 1280 nm 至 1640 nm
分辨率： 1 fs
偏振狀態(tài)測(cè)量速率： >3500 ∕秒
PMD 測(cè)量范圍： 0.01 ps (10 fs) 至 400 ps (取決于設(shè)置條件)
