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QUC-200數(shù)顯式磁性測厚儀執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)： 
GB/T1764-89 、GB/T13452.2-92 、ISO2808-74 ，
本儀器適于測定磁性材料表面上非磁性涂鍍層的厚度。于鐵磁性材料表面上非磁性涂鍍層厚度的測定。

QUC-200數(shù)顯式磁性測厚儀主要技術(shù)參數(shù)：
■測量范圍： O-200μm
■測量精度：±（ 0.7μm+3%H ）*H為標(biāo)準(zhǔn)厚度

測厚儀原理分類：
測厚儀按照測量的方式不同，可大致分為：
1、接觸式測厚儀
接觸面積大小劃分：
■點接觸式測厚儀
■面接觸時測厚儀
2、非接觸式測厚儀
非接觸式測厚儀根據(jù)其測試原理不同，又可分為以下幾種：
■激光測厚儀
■超聲波測厚儀
■涂層測厚儀
■X射線測厚儀
■白光干涉測厚儀
■電解式測厚儀

測厚儀應(yīng)用：
■薄膜測厚儀：用于測定薄膜、薄片等材料的厚度，測量范圍寬、測量精度高，具有數(shù)據(jù)輸出、任意位置置零、公英制轉(zhuǎn)換、自動斷電等特點。
■涂層測厚儀：用于測量鐵及非鐵金屬基體上涂層的厚度。
■超聲波測厚儀：超聲波測厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進(jìn)行厚度測量的，當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測物體到達(dá)材料分界面時，脈沖被反射回探頭，通過精確測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測量。
■激光測厚儀是利用激光的反射原理，根據(jù)光切法測量和觀察機(jī)械制造中零件加工表面的微觀幾何形狀來測量產(chǎn)品的厚度，是一種非接觸式的動態(tài)測量儀器。它可直接輸出數(shù)字信號與工業(yè)計算機(jī)相連接，并迅速處理數(shù)據(jù)并輸出偏差值到各種工業(yè)設(shè)備。
■X射線測厚儀利用X射線穿透被測材料時，X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性，從而測定材料的厚度，是一種非接觸式的動態(tài)計量儀器。它以PLC和工業(yè)計算機(jī)為核心，采集計算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機(jī)厚度控制系統(tǒng)，達(dá)到要求的軋制厚度。主要應(yīng)用行業(yè)：有色金屬的板帶箔加工、冶金行業(yè)的板帶加工.
紙張測厚儀：適用于4mm以下的各種薄膜、紙張、紙板以及其他片狀材料厚度的測量。