【儀表網(wǎng) 行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)】根據(jù)《團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)管理規(guī)定》(國標(biāo)委聯(lián)〔2019〕1號)、《浙江省半導(dǎo)體行業(yè)協(xié)會團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)管理》有關(guān)規(guī)定，由浙江省半導(dǎo)體行業(yè)協(xié)會組織制定、杭州朗迅科技股份有限公司、杭州芯云半導(dǎo)體技術(shù)有限公司等作為主要起草單位的《環(huán)境光傳感器芯片參數(shù)測試方法》團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)已經(jīng)完成征求意見稿，現(xiàn)公開征求意見，誠邀各相關(guān)單位及個人對其提出寶貴意見和建議，并于2024年5月14日前將修改意見和建議反饋到本協(xié)會。意見反饋郵箱：446259781@qq.com。
 

　　環(huán)境光傳感器芯片是一種通過感知周圍光照強(qiáng)度，實(shí)時輸出電信號的一種傳感芯片，具有暗電流小，低照度響應(yīng)，靈敏度高，電流隨光照度增強(qiáng)呈線性變化等特性。伴隨環(huán)境光傳感器領(lǐng)域未來的持續(xù)發(fā)展，必將給環(huán)境光傳感器芯片相關(guān)產(chǎn)業(yè)帶來巨大的商機(jī)，為整個產(chǎn)業(yè)鏈帶來非�？捎^的收益。
 

　　目前，環(huán)境光感芯片國外的測試解決方案，整體成本高昂，產(chǎn)品交付周期長；國產(chǎn)其他測試解決方案測試并行數(shù)量低，無法高效完成量產(chǎn)測試。故在國內(nèi)針對環(huán)境光傳感器芯片參數(shù)的測試方法進(jìn)行對應(yīng)研究，研制具有較高可靠性和可重復(fù)性的測試方法，幫助測試人員更好地組織和管理測試工作，提高測試效率和效果，在實(shí)現(xiàn)國產(chǎn)替代、技術(shù)先進(jìn)性、經(jīng)濟(jì)性、商業(yè)競爭力等維度都有其重要性和必要性。杭州朗迅科技股份有限公司聯(lián)合省內(nèi)外集成電路上下游企業(yè)、研究所院校共同編制《環(huán)境光傳感器芯片參數(shù)測試方法》協(xié)會團(tuán)體標(biāo)準(zhǔn)。
 

　　本文件按照GB/T 1.1—2020《標(biāo)準(zhǔn)化工作導(dǎo)則 第1部分：標(biāo)準(zhǔn)化文件的結(jié)構(gòu)和起草規(guī)則》的規(guī)定起草。
 

　　本標(biāo)準(zhǔn)主要內(nèi)容包括環(huán)境光傳感器芯片參數(shù)測試方法的范圍、規(guī)范性引用文件、術(shù)語和定義、總則、參數(shù)測試項(xiàng)等。
 

　　1.范圍
 

　　根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)主要內(nèi)容和適用對象確定范圍。
 

　　2.規(guī)范性引用文件
 

　　根據(jù)實(shí)際所引用的規(guī)范性文件按規(guī)定要求排列。
 

　　3.術(shù)語和定義
 

　　為了便于使用者對標(biāo)準(zhǔn)的理解和使用，對各種測試項(xiàng)進(jìn)行定義，包括“開路_短路 Open_Short”、“輸入漏電測試 IIH/IIL”、“IIC_ 讀寫測試”、“輸入高低電平 VIH/VIL”等。
 

　　4.環(huán)境光傳感器類別歸屬
 

　　根據(jù)國標(biāo) GB/T 34069-2017《物聯(lián)網(wǎng)總體技術(shù) 智能傳感器特性與分類》的規(guī)定，按傳感器檢測的對象對其進(jìn)行分類，環(huán)境光傳感器屬于物理量傳感器中的光學(xué)量傳感器分支，隸屬于可見光傳感器分支。
 

　　從智能化角度對智能傳感器進(jìn)行分類，環(huán)境光傳感器芯片屬于集成式智能傳感器。集成式智能傳感器采用大規(guī)模集成電路工藝技術(shù)，將傳感器敏感元件、信號調(diào)理電路、接口電路和微處理器等集成在同一塊芯片上。
 

　　5.傳感器芯片參數(shù)測試用例的要求
 

　　目前，國內(nèi)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)只查閱到國標(biāo) GB/T 30269.801-2017《信息技術(shù)傳感器網(wǎng)絡(luò)第 801 部分：測試：通用要求》。該標(biāo)準(zhǔn)中對參數(shù)測試用例的結(jié)構(gòu)做了明確要求，至少包含以下內(nèi)容：
 

　　——測試名稱
 

　　——測試目的
 

　　——測試描述
 

　　——測試設(shè)備
 

　　——初始條件
 

　　——測試準(zhǔn)備
 

　　——測試步驟
 

　　——測試判決
 

　　6.環(huán)境光傳感器芯片參數(shù)測試用例的相關(guān)技術(shù)要求
 

　　本標(biāo)準(zhǔn)針對環(huán)境光傳感器芯片參數(shù)測試用例中所包含的具體測試要素，做了明確且詳細(xì)的規(guī)定�？芍笇�(dǎo)該類別芯片產(chǎn)品的工程驗(yàn)證及量產(chǎn)測試的開發(fā)工作。
 

　　7.標(biāo)準(zhǔn)相關(guān)術(shù)語要求
 

　　參照 GB/T 7665-2005《傳感器通用術(shù)語》，在環(huán)境光傳感器芯片參數(shù)測試方法標(biāo)準(zhǔn)中涉及的相關(guān)部分術(shù)語方面，與《傳感器通用術(shù)語》的要求保持一致，主要涉及以下相關(guān)部分：
 

　　測量結(jié)果：由測量所得到的賦予被測量的值。
 

　　準(zhǔn)確度：測量結(jié)果與被測量的真值之間的一致程度。
 

　　零點(diǎn)輸出：在規(guī)定條件下，所加被測量為零時傳感器的輸出
 

　　校準(zhǔn)：在規(guī)定的條件下，通過一定的試驗(yàn)方法記錄相應(yīng)的輸入- 輸出數(shù)據(jù)，以確定傳感器性能的過程。
 

　　校準(zhǔn)曲線：根據(jù)校準(zhǔn)數(shù)據(jù)所繪制出的表征傳感器輸入-輸出關(guān)系的曲線。
 

　　偏差：一個值減去其參考值。
 

　　補(bǔ)償：利用附加器件、電路或特殊材料抵消已知誤差(源)的措施
 

　　更多詳情內(nèi)容請見附件。