【儀表網(wǎng) 研發(fā)快訊】近期，中國科學院上海光學精密機械研究所高功率激光元件技術(shù)與工程部在光學元件多表面面形測量研究方面取得新進展，相關(guān)成果以“Surface profile measurement of transparent parallel plates by multi-scale analysis phase-shifting interferometry (MAPSI)”為題發(fā)表于Optics and Lasers in Engineering。
 

　　在光學元件的多表面面形測量中，傳統(tǒng)的傅里葉相移干涉術(shù)(FTPSI，ZygoCorp.)主要通過利用傅立葉變換精確地重建光學表面輪廓。該測量方式也存在諸多局限，如對激光器指標的要求較高，大量干涉圖的長時間采集使測量結(jié)果受環(huán)境振動影響較大，需要用戶輸入精確腔長等問題。
 

　　針對這些問題，研究人員提出的多尺度分析相移干涉術(shù)(Multi-scaleAnalysis Phase-shifting Interferometry，MAPSI)展現(xiàn)出了出色的性能。該技術(shù)的核心在于通過精心設(shè)計的移相步長和采樣數(shù)，在波長調(diào)諧移相期間實現(xiàn)精確的頻率分析和高精度波前重建，有效避免了傳統(tǒng)多表面面形干涉測試中常見的采樣不足和頻譜移動問題。實驗結(jié)果顯示，與FTPSI相比，MAPSI僅需更少的圖像采樣(約為FTPSI的1/6~1/4)，即可實現(xiàn)波前重構(gòu)的高測量重復性。其PV測量重復性和RMS測量重復性分別優(yōu)于0.055λ和0.012λ。MAPSI不僅顯著降低了對激光器調(diào)諧范圍的要求，減少了干涉圖的采集數(shù)量，而且其測量結(jié)果與用戶輸入的腔長準確性無關(guān)，極大地提高了測量的便捷性。該工作在光學元件多表面面形測量中具有重要意義。
 

圖1 配備MAPSI的恒邁光學4英寸波長調(diào)諧移相干涉儀
 

圖2 MAPSI在不同腔長下的測量結(jié)果對比