當前位置:丹東華宇儀器有限公司>>平均粒度儀>>WLP-202型平均粒度儀>> WLP-202型平均粒度儀
產(chǎn)地 | 國產(chǎn) | 加工定制 | 否 |
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可測粒度范圍 | 第一檔:0.2-20 微米;第二檔:20-50 微米 | 適用行業(yè) | 其他 |
顯示方式 | 其他 |
WLP-202型平均粒度測定儀(即費氏粒度儀)是一種利用空氣透過法來測定各種粉末材料平均粒度的儀器,由于不受材料結(jié)團對測量的影響,測試的粒度重復性非常的好,精度高,由于儀器結(jié)構(gòu)簡單,操作方便,造價低,性能穩(wěn)定,自1978 年投產(chǎn)以來,廣泛應用于硬質(zhì)合金,磁性材料,化工材料,醫(yī)藥,陶瓷等工業(yè)上。四十年來深受國內(nèi)外用戶好評。
主要技術參數(shù)
·測量范圍:第一檔:0.2-20 微米;第二檔:20-50 微米
·孔隙度范圍:0.4-0.8
·環(huán)境溫度:25±10℃
·重復性:3%
·電源:110V/60HZ, 220V/50HZ, 任選一種
·功率:30W
·重量:18kg
·外形尺寸:735×415×245mm^3
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