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LCD點(diǎn)狀缺陷分析與研究

時(shí)間:2021/6/15閱讀:182
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LCD面板在制造過程中,大致可以分為三個(gè)階段:陣列(array)、成盒(cel1)、模組(module).。盡管LCD面板制造的大部分過程都是在高潔凈度的無塵室里完成的,但LCD顯示屏上還是不可避免地會(huì)出現(xiàn)一些缺陷。造成這些缺陷的原因有很多,在其制造的各個(gè)環(huán)節(jié)都有缺陷產(chǎn)生。在成盒階段形成的針孔缺陷和黑點(diǎn)缺陷是兩種較為常見的點(diǎn)狀缺陷。

 

在灌注液晶時(shí)盒內(nèi)如果產(chǎn)生真空氣泡,即形成針孔缺陷;如果灌注液晶前空盒里面就有了一些粒子團(tuán)(particle cluster),或者是在灌液晶的時(shí)候有一些粒子團(tuán)混入盒內(nèi),即造成黑點(diǎn)狀缺陷。

 

點(diǎn)狀缺陷的核心會(huì)對(duì)其周圍的液晶分子產(chǎn)生錨定作用,因此必然會(huì)影Ⅱ向一定范圍內(nèi)液晶分子的排列。通過對(duì)兩種典型點(diǎn)狀缺陷的研究,發(fā)現(xiàn)不同缺陷核心影響其周圍液晶分子排列的能力有極大不同,并通過外推長(zhǎng)度理論和彈性長(zhǎng)程關(guān)聯(lián)理論對(duì)實(shí)驗(yàn)現(xiàn)象進(jìn)行論證。

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