射頻導納物位控制技術(shù)是一種從電容式物位控制技術(shù)發(fā)展起來的，防掛料性能更好、更可靠、更準確、適用性更廣的物位控制技術(shù)，“射頻導納”中“導納”的含義為電學中阻抗的倒數(shù)，它由阻性成份、容性成份、感性成份綜合而成，而“射頻”即高頻無線電波，所以射頻導納技術(shù)可以理解為用高頻電流測量導納。
射頻導納物位計利用高頻技術(shù)，由電子線路產(chǎn)生一個小功率射頻信號于探頭上，探頭作為敏感元件，將來自物位介電常數(shù)引起的信號變化反饋給電子線路；由于這些變化包括電容量和電導量的變化，因而電子線路處理的是容抗和阻抗的綜合變化信號；進行處理后改變繼電器的輸出狀態(tài)。它是在原電容測量的基礎(chǔ)上改進的測量技術(shù)，代表了當今物位測量的新水平。
射頻導納物位計液位本身對探頭相當于一個電容，它不消耗變送器的能量，（純電容不耗能）。但掛料對探頭等效電路中含有電阻，則掛料的阻抗會消耗能量，從而將振蕩器電壓拉下來，導致橋路輸出改變，產(chǎn)生測量誤差。我們在振蕩器與電橋之間增加了一個緩沖放大器，使消耗的能量得到補充，因而不會降低加在探頭的振蕩電壓。
射頻導納物位計對于導電被測介質(zhì)，探頭絕緣層表面的接地點覆蓋了整個被測介質(zhì)及掛料區(qū)，使有效測量電容擴展到掛料的頂端。這樣便產(chǎn)生掛料誤差，且導電性越強誤差越大。但任何被測介質(zhì)都不是*導電的。從電學角度來看，掛料層相當于一個電阻，傳感元件被掛料覆蓋的部分相當于一條由無數(shù)個無窮小的電容和電阻元件組成的傳輸線。根據(jù)數(shù)學理論，如果掛料足夠長，則掛料的電容和電阻部分的阻抗相等。
射頻導納物位計根據(jù)對掛料阻抗所產(chǎn)生的誤差研究，又增加一個交流驅(qū)動器電路。該電路與交流變換器或同步檢測器一起就可以分別測量電容和電阻。由于掛料的阻抗和容抗相等，則測得的總電容相當于C+C掛料，再減去與C掛料相等的電阻R，就可以實際測量真實值，從而排除掛料的影響。
射頻導納物位計是目前物位控制器跨世紀的前衛(wèi)替代產(chǎn)品，在歐美國家和日本已被廣泛應(yīng)用，國內(nèi)的用戶也在用它替換舊的產(chǎn)品。它可以檢測所有物料而不受物料的密度、顆粒大小、化學成分、沉積粘度和導電特性等參數(shù)變化的影響。廣泛地應(yīng)用于液體、粉體、漿體、固體等多種物料的控制。
