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美國鈦淦tegam 1740微歐計(jì)20mΩ毫歐直流微電阻測試

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產(chǎn)品簡介

鈦淦TEGAM 1740高精度微歐計(jì)應(yīng)用于對微小尺寸的被測件進(jìn)行微歐和毫歐級的直流低電阻測試，具有1μΩ分辨率和0.02%的基本精度，配合專門的探針臺和測試探針，實(shí)現(xiàn)四線式的電阻測試，保證測試精度，配有 RS-232和GPIB通訊接口。

詳細(xì)介紹

TEGAM公司有超過15年的低電阻測試經(jīng)驗(yàn)，并且已經(jīng)開發(fā)出一系列的高精度、高速的微歐和毫歐級電阻測試的測試儀器。TEGAM 1740微歐計(jì)型號使用正反向電流激勵源，這種雙向測試方式保證1740的測試結(jié)果不受接觸點(diǎn)熱電壓的影響，從而保證小電阻測試的精度。同時(shí)tegam1740微歐計(jì)配有RS-232和GPIB通訊接口，可以很容易的兼容到現(xiàn)有或者新的軟件系統(tǒng)當(dāng)中，適用于線纜、連接件、開關(guān)、無源器件、金屬焊點(diǎn)、搭接電阻等眾多需要精密低電阻測試的應(yīng)用。

鈦淦tegam 1740微歐計(jì)特點(diǎn)

鈦淦1740可編程微歐計(jì)內(nèi)部采用高靈敏度的低電壓測試電路，降低了對激勵源電流的要求。這意味著，再也不用擔(dān)心電流過大對被測件造成損壞。Tegam 1740內(nèi)部有高精度、高穩(wěn)定性的標(biāo)準(zhǔn)電阻，測試過程中進(jìn)行自動校準(zhǔn)，隨時(shí)修正環(huán)境溫度和儀器溫度的變化，保證測試精度不受影響。

tegam 1740型微歐計(jì)和探針臺的組合，為微小尺寸被測件的直流低電阻測試，提供了高精度、界面友好的解決方案。真空探針臺和測試探針可以解決微小尺寸器件的固定和接觸，1740型微歐計(jì)提供該應(yīng)用所需的高精度測試。如果用戶對測試量程有更高的要求，還可以選擇tegam 1750微歐計(jì)型號，測試分辨率將達(dá)到0.1微歐。

另有RM3545微歐計(jì)分辨率0.01μΩ、測量速度2.2ms，可替代TEGAM 1740/1750型，在高校、自動化設(shè)備、電子制造企業(yè)廣泛應(yīng)用，歡迎。

美國鈦淦TEGAM 1740可編程精密微歐計(jì)滿量程電壓和引線電阻時(shí)參考電流對照表

量程/分辨率		參考電流(可用選擇)
量程/分辨率		1A	100mA	10mA	1mA	100μA	10μA	1μA	100nA
2mΩ（1750型）	100nΩ	2mV
20mΩ	1μΩ	20 mV	2 mV
200mΩ	10μΩ	200 mV	20 mV
2Ω	100μΩ		200 mV	20 mV
20Ω	1mΩ			200 mV	20 mV
200Ω	10mΩ			2 V	200 mV	20 mV
2kΩ	100mΩ				2 V	200 mV
20kΩ	1Ω					2 V	200 mV
200kΩ	10Ω						2 V
2MΩ	100Ω							2 V
20MΩ	1kΩ								2 V
引線電阻		500 mΩ	5 Ω	50 Ω	100 Ω	100 Ω	100 Ω	100 Ω	100 Ω

詳細(xì)規(guī)格說明書 /download/201508/tegam1740_tegam1750.pdf

Tegam 1740/1750型微歐計(jì)是TEGAM主要的產(chǎn)品之一，被認(rèn)為是業(yè)內(nèi)速度、精度的微歐計(jì)，是需要高速低誤差制造過程的高速生產(chǎn)線、品質(zhì)工程師和產(chǎn)品開發(fā)工程師的。在高速元器件生產(chǎn)線、實(shí)驗(yàn)室精密測試，和航空、電力、汽車部件維修領(lǐng)域等有的度。與鈦淦tegam 1750型微歐計(jì)相比，tegam 1740沒有2 mΩ這個檔位，因此它的分辨率為1μΩ。

關(guān)鍵詞：通訊接口標(biāo)準(zhǔn)