DP-CST-500系列電偶腐蝕/電化學(xué)噪聲測(cè)試儀全部由品質(zhì)CMOS和BiFET®集成電路組成，用于實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)電偶腐蝕或者電化學(xué)噪聲信號(hào)，儀器可以通過(guò)基于Windows的ENtools軟件行設(shè)置（由串口控制），也可以直接通過(guò)面板觸摸鍵盤操作。通過(guò)ENtools軟件用戶可計(jì)算電偶電流密度，電偶腐蝕速率、噪聲電阻Rn，以及點(diǎn)蝕指數(shù)等。ENtools軟件還具有較強(qiáng)的繪圖功能，支持圖形矢量方式，可以直接拷貝到Word文檔中，便于文檔建立和資料保存。

儀器工作原理

DP-CST-500系列采用工業(yè)單片機(jī)控制芯片，并采用斬波穩(wěn)零放大器Max7650作為前置放大電路，其溫漂小于1mV/℃，時(shí)漂小于10mV/Month。采用基于零阻電流測(cè)量原理來(lái)監(jiān)測(cè)電化學(xué)噪聲和電偶腐蝕電流。內(nèi)置有雙通道24bit精度AD轉(zhuǎn)換器，Z采樣速率為1000Hz，電流測(cè)量具有自動(dòng)量程功能，內(nèi)置低通濾波器，可以有效消除頻噪聲入測(cè)量單元；通訊部分采用RS232/485電路，電路采用全光隔，避免地回路對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響，保障儀器在工業(yè)環(huán)境中的正常使用。

	DP-CST-500	DP-CST-550
數(shù)據(jù)分辨率	?Σ-Δ AD 24bit
數(shù)據(jù)采集速率	0.01～1000Hz，雙通道同步
輸入阻抗	1×10¹² W\|\|20pF
Z大測(cè)量電位范圍	±5V	±10V
電流測(cè)量范圍	±20mA	±200mA
電流量程	20mA～2nA，共8檔	200mA～20 nA，共8檔
電位分辨率	1μV	10μV
Z小電流分辨率	1pA	10pA
通訊協(xié)議	RS232/485(可選)，Baud Rate：9600～115200bps
電源	交流220V/50Hz±10%
功耗	<10 W	<50 W
體積	36厘米(寬)×30厘米(深)×14厘米()
重量	<3Kg
工作環(huán)境條件	溫度-10℃～40℃，相對(duì)濕度75%以下?？諝庵袩o(wú)強(qiáng)烈腐蝕性氣體。

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電偶腐蝕測(cè)試儀型號(hào):DP-CST-500

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